SEMICONDUCTOR EQUIPMENT
ウェハプローバーメーカー6社
ウェハプローバー(Wafer Prober)は、ダイシング前のウェハ状態で各チップの電気特性を測定・検査するCP(Chip Probing)テスト装置です。高精度プローブカードを用いてチップ上のパッドに接触し、ATEと連携して機能・電気特性を評価します。不良チップを事前に識別することで、パッケージング工程への無駄な投入を防ぎ、製造コスト削減とトレーサビリティ確保に貢献します。歩留まり向上と工程改善のための重要なデータ収集も行います。
メーカー 6 社関連カテゴリ 1 件
主要特徴
ダイシング前の全チップ電気特性を一括検査
プローブカードで精密接触しDC/AC特性・機能動作を測定
不良チップの早期検出でインク打ち・後工程コスト削減
歩留まり管理・プロセスモニタリングデータを収集
高温・低温環境下テストによる信頼性評価にも対応
代表製品・スペック
※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
メーカー
6社の主要メーカー
関連カテゴリ
関連用語
比較・違いを学ぶ
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