SEMICONDUCTOR EQUIPMENT

テスト装置メーカー6Test Equipment

テスト装置は、後工程で組立・実装されたデバイスが仕様どおりに動作するかを電気的に検証し、出荷品質を担保するためのカテゴリです。目的は、不良の選別(スクリーニング)と特性評価、ならびに信頼性を左右する弱点の早期検出です。製造プロセスの条件変動や材料由来の不具合が最終特性に現れるため、計測結果を工程へフィードバックして歩留まり改善につなげます。検査・計測との役割分担を明確にしつつ、最終品質の指標として重要な位置づけになります。

メーカー 6サブカテゴリ 2

重要ポイント

後工程の最終品質を担保:電気的特性で合否判定
不良選別(スクリーニング)と特性評価が主目的
結果は工程へフィードバックされ歩留まり改善に直結
検査/計測と連携し「品質の指標」として機能する

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メーカー

6社の主要メーカー

アドバンテスト日本

半導体テスト装置(ATE)市場で世界シェア50%超のリーダー。SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューションを提供。

  • ATE市場で世界シェア50%以上のトップポジション
  • SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューション
  • AI技術を統合した適応型テストシステム
Teradyne(テラダイン)米国

ATE(自動テスト装置)の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。

  • ATE市場でアドバンテストと並ぶ世界2強の一角
  • SoC・メモリ・車載向けの包括的テストラインナップ
  • UltraFLEX・J750など実績豊富なテストプラットフォーム
FormFactor米国

プローブカード・ウェハプローバの世界的リーダー。先端ロジック・DRAM・3D-IC向け超高精度電気テストインターフェースを提供。

  • プローブカードでグローバルトップシェア
  • 先端ノード(2nm以下)対応の超精密プロービング
  • DRAM・HBM・3D-IC向け特化製品ラインナップ
Cohu米国

半導体テストハンドラ・テストソケット・テスト用サーマルシステムの主要メーカー。Xcerra買収後にテストエコシステムをワンストップ提供。

  • ICテストハンドラのグローバル主要サプライヤー
  • テストソケット・コンタクタの広範なポートフォリオ
  • サーマル制御システムによる高精度テスト環境の実現
日本電子材料(JEM)日本

プローブカードの専業メーカー。カンチレバー型から垂直型、MEMS型まで各種プローブカードを供給し、ロジック・メモリ・パワーデバイスのウェハテストに用いられる。

  • カンチレバー型からMEMS型まで幅広いプローブカード
  • 多ピン・狭ピッチ化への対応
  • デバイス別にカスタム設計する体制
シバソク日本

映像・音響測定器を源流とする計測機器メーカー。半導体分野ではアナログ・ミックスドシグナル向けのテストシステムやテスト用計測モジュールを供給する。

  • アナログ計測で培った高精度測定技術
  • 映像・音響からの技術展開
  • 用途に合わせたテストシステムの構成力

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