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DUV露光装置メーカー5

DUV露光装置(Deep Ultraviolet Lithography)は、ArFエキシマレーザー(193nm)またはKrFエキシマレーザー(248nm)を光源とした露光装置です。ArF液浸露光では純水(屈折率1.44)をレンズとウェハの間に充填することで実効的なNAを向上させ、193nm÷1.44≒134nmの実効波長を実現します。さらに多重露光技術(SADP・SAQP・LELE)と組み合わせることで10nm台のノードまで対応可能です。EUVより安価で成熟度が高く、先端ノードでも一部の層でDUVが継続使用されます。

メーカー 5関連カテゴリ 3

主要特徴

ArF(193nm)・KrF(248nm)レーザーを光源とする成熟した露光技術
ArF液浸露光(液浸NA最大1.35)で実効解像度を大幅に向上
SADP/SAQP等の多重パターニングと組み合わせ10nm台ノードに対応
EUVより低コスト・高スループットで幅広いノードで採用継続
ASML・Nikon・Canonが主要メーカー(EUVと異なり競合環境が存在)

よくある質問

DUV露光装置とは何ですか?
DUV(Deep Ultraviolet)露光装置は、ArFエキシマレーザー(193nm)またはKrFレーザー(248nm)を光源とする露光装置です。液浸露光とマルチパターニング技術を組み合わせることで、28nm以下のノードの製造にも現在も広く使われています。
ArF液浸露光とは何ですか?
ArF液浸露光(ArF Immersion)は、レンズとウェハの間に超純水(屈折率約1.44)を充填することで、実効的なレンズの開口数(NA)を高め解像度を向上させる技術です。ドライArFに比べて約44%解像度が向上し、10〜30nmノードの形成に使用されます。
DUV露光装置の主要メーカーはどこですか?
ASML(オランダ)が最大のシェアを持ち、次いでNikon(日)、Canon(日)の3社が主要メーカーです。EUVとは異なりASMLの独占ではなく、ニコン・キヤノンが競合する市場構造になっています。

代表製品・スペック

製品写真
ASML
TWINSCAN NXT:2100i

ASMLの主力ArF液浸DUV露光装置。EUV補完工程や成熟ノード量産に広く使用されている。

光源波長ArF液浸 193 nm
開口数(NA)1.35
解像度38 nm 以下
スループット最大 295 WPH
主要用途7nm〜28nm ロジック・メモリ量産
ASML の企業情報を見る →
製品写真
ニコン(Nikon)
NSR-S635E

ニコンのArF液浸DUV露光装置。高解像度と生産性を両立し、先端ノードの量産工程に対応。

光源波長ArF液浸 193 nm
開口数(NA)1.35
解像度38 nm 以下
スループット最大 250 WPH
主要用途先端ロジック・メモリのDUV工程
ニコン(Nikon) の企業情報を見る →
製品写真
キヤノン(Canon)
FPA-3030EX6

キヤノンのKrF(248nm)露光装置。成熟ノードの量産工程で安定した稼働実績を持つ。

光源波長KrF 248 nm
開口数(NA)0.85
解像度130 nm 以下
スループット最大 150 WPH
主要用途成熟ノード量産・パワー半導体

※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

メーカー

5社の主要メーカー

ASMLオランダ

EUV露光装置の唯一のグローバルサプライヤー。極紫外光リソグラフィ技術でムーアの法則を延命させ、5nm以下の先端プロセスに不可欠。

EUV露光装置
TWINSCAN NXETWINSCAN EXE (High-NA)
DUV露光装置
TWINSCAN DUVシリーズ
  • EUV露光装置の唯一のグローバルサプライヤー
  • High-NA EUVで8nmの解像度を実現
ニコン(Nikon)日本

DUVスキャナーおよびi線ステッパーの主要メーカー。高解像度光学技術とウェーハステージ技術に強みを持ち、成熟プロセス向けや再生装置市場で存在感を発揮。

DUVスキャナー
NSR-S635ENSR-S620D
i線ステッパー
NSR-iA シリーズ
  • i線ステッパー・DUVスキャナーの長年の製造実績
  • 光学系・精密ステージ技術における技術的優位
キヤノン(Canon)日本

i線・KrFステッパーを長年供給する露光装置メーカー。近年はナノインプリント・リソグラフィ(NIL)を量産化し、EUVに代わる新たな微細化ルートとして注目される。

ステッパー
FPA-5520iVFPA-6300ES6a
ナノインプリント装置
FPA-1200NZ2C
  • i線・KrFステッパーの世界的プレーヤー
  • ナノインプリント・リソグラフィ(NIL)の商用化で先行
ギガフォトン日本

半導体露光用エキシマレーザー光源の大手メーカー。ArF・KrFレーザーでASML・ニコン・キヤノンの露光装置に光源を供給。小松製作所と旭硝子(AGC)の合弁会社。

エキシマレーザー
ArFレーザー(GT63A)KrFレーザー(GT55K)ArF液浸対応レーザー
  • ArF(193nm)・KrFエキシマレーザー光源で世界シェア上位
  • Cymer(Applied Materials傘下)と並ぶ二大光源メーカーの一角
ウシオ電機日本

産業用・半導体製造向け光源装置の日本大手。UV・DUV露光光源、ランプ式露光装置、UV硬化システムを手がける光技術の総合メーカー。

露光光源
超高圧水銀ランプエキシマランプ
UV硬化装置
UV照射システム
  • 半導体露光用水銀ランプ・エキシマランプで国内トップ
  • UV硬化・表面処理向け光源の幅広いラインナップ

関連カテゴリ

EUV露光装置
i線ステッパー
ナノインプリントリソグラフィ(NIL)

関連用語

DUV露光とは →EUV露光とは →i線ステッパーとは →液浸リソグラフィとは →フォトマスクとは →フォトレジストとは →コーター/デベロッパとは →High-NA EUVとは →レチクルとは →EUV光源とは →ナノインプリントリソグラフィ(NIL)とは →

比較・違いを学ぶ

EUV露光装置とDUV露光装置の違い
いずれもフォトレジスト上に回路パターンを転写する露光装置ですが、光源の波長と装置構成が根本的に異なります。EUVは13.5nmの極紫外線で単一露光による微細化が
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EUV露光装置は現在、「従来EUV(NA=0.33、ASMLのNXEシリーズ)」と「High-NA EUV(NA=0.55、ASMLのEXEシリーズ)」の2世代
ArF露光とKrF露光の違い(DUV露光装置比較)
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シングルパターニングとマルチパターニングの違い
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ナノインプリントとEUVの違い(次世代リソグラフィ比較)
ナノインプリントリソグラフィ(NIL)とEUV露光はいずれも半導体製造における微細化を実現するリソグラフィ技術ですが、パターン転写の原理が根本的に異なります。E
ポジ型レジストとネガ型レジストの違い(フォトレジストの比較)
フォトレジストは露光で溶解特性が変化する感光性材料で、ポジ型は露光部が現像液に溶け(マスクの透過部がパターンとして残る逆)、ネガ型は露光部が硬化して残り未露光部
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