SEMICONDUCTOR EQUIPMENT
EUV露光装置メーカー2社
EUV露光装置(Extreme Ultraviolet Lithography)は、波長13.5nmの極端紫外線を使用してウェハ上に超微細回路パターンを転写する露光装置です。ArFエキシマレーザーを光源とするDUV露光では多重露光が必要な7nm以下のノードで、EUV露光は単一露光でパターン形成を可能にし、工程数を大幅に削減します。真空環境・反射型光学系が必須で、光源にはLPP(レーザー生成プラズマ)方式でスズ(Sn)プラズマを生成します。ASMLがNXE・TWINSCANシリーズで世界市場を独占しており、1台200億円超の超高額装置です。
メーカー 2 社関連カテゴリ 3 件
主要特徴
波長13.5nm(DUV ArFの1/14)で7nm以下ノードの単一露光を実現
反射型光学系(ミラー)+真空環境が必須(レンズ・空気では吸収)
光源はスズ(Sn)プラズマによるLPP(レーザー生成プラズマ)方式
ASMLがNXE/TWINSCANシリーズで世界独占(1台200億円超)
High-NA EUV(NA=0.55)で2nm以下ノードへの対応が進む
よくある質問
代表製品・スペック
※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
メーカー
2社の主要メーカー
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関連用語
比較・違いを学ぶ
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