COMPANY DATABASE
Onto Innovation
Rudolph Technologies と Nanometrics の統合で誕生した検査・計測メーカー。光学検査、膜厚計測、先端パッケージング計測に強み。
当サイトでの位置づけ
検査・計測カテゴリでは、KLA に次ぐ光学検査・膜厚計測・先端パッケージング計測のプレーヤーとして、オーバーレイやウェハ検査の用語と結び付きます。
企業の強み
光学ウェハ検査・膜厚計測で世界有数のポジション
先端パッケージング（FO-WLP・HBM）向け計測ソリューション
統合計測ソフトウェア（Discover）による歩留まり改善支援
主要製品・ソリューション
ウェハ検査装置
- •Dragonfly G3
膜厚・オーバーレイ計測
- •Atlas V
- •Firefly
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📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア＆カオスマップ
ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、Onto Innovationを含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。
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