膜厚計測装置メーカー5社

半導体検査・計測装置の世界的リーダー。AI駆動の欠陥検出と先進データ分析により、歩留まり向上とプロセス開発を加速。

• •検査・計測装置における世界的リーダー
• •AI・データ分析を統合した先端プロセスコントロール

Rudolph Technologies と Nanometrics の統合で誕生した検査・計測メーカー。光学検査、膜厚計測、先端パッケージング計測に強み。

• •光学ウェハ検査・膜厚計測で世界有数のポジション
• •先端パッケージング（FO-WLP・HBM）向け計測ソリューション

世界をリードする計測・検査技術のパイオニア。電子顕微鏡技術を核とした「見る・測る・分析する」の総合力で、2nm/3nm世代の先端半導体製造をサポート。

• •CD-SEM（測長SEM）で世界シェア約80%を占める圧倒的なポジション
• •2nm/3nm世代の先端プロセスに不可欠な計測技術を提供

科学計測機器・半導体計測装置の世界的メーカー。AFM（原子間力顕微鏡）・X線計測・電子顕微鏡を半導体製造の計測・品質管理に提供。

• •半導体向けAFM（原子間力顕微鏡）で世界最大手。ナノスケール形状計測に必須
• •X線回折（XRD）・X線反射率（XRR）による非破壊膜厚・結晶品質計測

瞬時マルチ測光システムを核とする分光計測メーカー。分光方式の膜厚測定装置や光学特性評価装置を供給し、レジスト膜や薄膜の厚み・屈折率の測定に用いられる。

• •瞬時マルチ測光による高速分光測定
• •膜厚と光学定数を同時に評価