最終更新 2026-10-07

DRAM製造プロセスとは

DRAM Manufacturing Process
目次8項目
  1. 定義・解説
  2. 図解
  3. よくある質問
  4. 設備の製造メーカー
  5. 関連する製品
  6. 関連用語
  7. 比較・違いを学ぶ
  8. 出典・参考資料

定義・解説

DRAM(Dynamic Random Access Memory)製造プロセスは、1トランジスタ+1キャパシタのセル構造を微細化・高集積化する製造技術です。DRAMはシステムメインメモリ・HBMベースダイとして広く使用され、製造プロセスはセルサイズの縮小とキャパシタ容量の維持が主要な技術課題です。

SKハイニックス(HBM3E)・マイクロン・サムスンが最先端DRAMプロセスをリードします。先端DRAMはEUV露光と高度な成膜・エッチング技術を組み合わせて製造されます。

DRAMは1トランジスタ+1キャパシタ(1T1C)のセルで構成され、キャパシタに電荷を蓄えて情報を記憶します。電荷は時間とともに漏れるため、定期的に読み出して書き戻すリフレッシュが必要です。微細化に伴い、深いトレンチや高アスペクト比のセルキャパシタ形成が技術的難所です。

先端DRAMでは、最も微細な層にEUV露光を導入し、埋め込みワードラインやHigh-kキャパシタ絶縁膜などで微細化を進めています。SKハイニックス・サムスン・マイクロンの3社が市場を占め、AI需要を背景にHBM向けDRAMの生産が拡大しています。

図解

DRAM製造プロセスの主な工程(STI・埋め込みワード線・ビット線・キャパシタ・配線)
HBMのDRAMダイも同じプロセスで作り、TSVで積み重ねる。

よくある質問(FAQ)

DRAM製造プロセスとは何ですか?
1トランジスタ+1キャパシタのセルを多数集積したDRAMを製造する工程です。キャパシタへの電荷蓄積で記憶し、リフレッシュが必要なメモリです。
DRAM製造の難所はどこですか?
微細化に伴う高アスペクト比のセルキャパシタ形成や、リーク電流の抑制が難所です。先端品ではEUV露光や埋め込みワードラインが使われます。
主要メーカーは?
SKハイニックス、サムスン、マイクロンの3社が世界市場の大半を占めます。AI向けHBM用DRAMの需要が拡大しています。

設備の製造メーカー

この用語に関連する製品

型番は各社の公式製品ページで確認したものです。出典のリンクは各製品ページに載せています。

Producer® XP Precision® Draco™ CVDApplied Materials・CVD装置
T5801アドバンテスト・メモリテストシステム
Magnum E2Teradyne(テラダイン)・メモリテストシステム
T5835アドバンテスト・メモリテストシステム
T5833アドバンテスト・メモリテストシステム
T5511アドバンテスト・メモリテストシステム
H5620アドバンテスト・メモリテストシステム
B6700 シリーズアドバンテスト・バーンインシステム
M5241アドバンテスト・テストハンドラ

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比較・違いを学ぶ

出典・参考資料

  1. Applied Materials「Producer® XP Precision® Draco™ CVD 製品ページ」(2026/10/07 確認)
  2. アドバンテスト「T5801 製品ページ」(2026/10/07 確認)
  3. Teradyne(テラダイン)「Magnum E2 製品ページ」(2026/10/07 確認)