品質管理Quality Control

品質管理カテゴリは、半導体製造プロセスにおける欠陥検査・品質保証・歩留まり管理に関わる技術を扱います。半導体デバイスの微細化が進むにつれ、製造工程で発生するわずかな欠陥が製品不良に直結するため、高精度な検査・計測技術の重要性が増しています。欠陥検査装置（光学式・電子線式）、膜厚・パターン寸法計測装置、オーバーレイ計測など、各工程での品質確認プロセスが歩留まりと製品信頼性を決定します。インライン検査によるリアルタイム品質モニタリングや、AIを活用した欠陥分類・根本原因分析など、品質管理技術も高度化しており、先端プロセス（3nm以下）では品質管理が製造競争力の核心的な要素となっています。