COMPANY DATABASE
ブルカー（Bruker）
科学計測機器・半導体計測装置の世界的メーカー。AFM（原子間力顕微鏡）・X線計測・電子顕微鏡を半導体製造の計測・品質管理に提供。
当サイトでの位置づけ
Semiraiの計測カテゴリでは、半導体ウェハのナノスケール形状・膜厚・結晶品質を非破壊で測定するAFM・X線計測装置のリーダーとして参照されます。
企業の強み
半導体向けAFM（原子間力顕微鏡）で世界最大手。ナノスケール形状計測に必須
X線回折（XRD）・X線反射率（XRR）による非破壊膜厚・結晶品質計測
Hysitron（ナノインデンター）買収でSiウェーハ機械特性評価も強化
主要製品・ソリューション
AFM
- •Dimension Icon（最先端AFM）
- •Innova（産業用AFM）
X線計測
- •D8 DISCOVER（XRD）
- •JVX 7300（X線反射率）
関連装置カテゴリ
📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア＆カオスマップ
ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、ブルカー（Bruker）を含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。
関連用語
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