COMPANY DATABASE

アルバック・ファイ

アルバックと米PHIの合弁による表面分析装置メーカー。XPS(ESCA)、TOF-SIMS、走査型オージェ電子分光装置などを供給し、汚染元素の同定や薄膜の深さ方向分析に使われる。

🌐 日本装置メーカー公式サイト

当サイトでの位置づけ

Semirai の分析装置カテゴリでは、表面から数nmの元素・化学状態を調べる装置群を担うメーカーとして位置づけられます。欠陥検査が「どこに異常があるか」なら、こちらは「それが何か」を突き止める側です。

企業の強み

XPS・SIMS・オージェを揃えた表面分析ラインナップ
深さ方向の元素分布分析に対応
微小領域の化学状態分析が可能

主要製品・ソリューション

表面分析装置

  • XPS(ESCA)
  • TOF-SIMS
  • 走査型オージェ電子分光装置

関連装置カテゴリ

計測・分析装置
検査・計測装置

📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア&カオスマップ

ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、アルバック・ファイを含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。

関連用語

SIMS(二次イオン質量分析)とは →金属汚染(メタルコンタミネーション)とは →パーティクル汚染(発塵管理)とは →透過型電子顕微鏡(TEM)とは →計測(メトロロジー)とは →
アルバック・ファイ 公式サイトへ

FOR COMPANIES

貴社の情報をSemiraiに掲載しませんか?

無料プランからご利用いただけます。

掲載プランを見る →
← 企業一覧に戻る