酸化膜エッチャーメーカー3社

オキサイドエッチャーは、シリコン酸化膜(SiO₂)・高誘電率酸化膜(HfO₂など)・BPSG・TEOS酸化膜といった絶縁膜をプラズマで精密に除去する専用装置です。コンタクトホール・ビアホール・STIトレンチなどの高アスペクト比構造の形成に多用され、選択比(酸化膜対シリコン・窒化膜)の確保がプロセス品質の要です。フッ素系ガス(C₄F₈・CF₄など)を主に使用し、先端ロジック・メモリ双方の基幹工程を支えます。

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主要特徴

SiO₂・BPSG・HfO₂など多様な酸化膜を高精度でプラズマエッチング
フッ素系ガス(C₄F₈・CF₄)で高い酸化膜対シリコン選択比を実現
コンタクトホール・ビアホール・STIトレンチの高アスペクト比加工を担う
高周波バイアス制御でイオン入射角を最適化し垂直側壁を形成
ALE(原子層エッチング)への対応で1nm世代の精度要求に応える

よくある質問

オキサイドエッチャーのアスペクト比依存性問題(ARDE)とは?▾
高アスペクト比の穴を掘る際、穴の入口と底でエッチング速度が異なる現象(ARDE)が発生します。プラズマイオンが深い穴の底に到達しにくくなるためで、圧力・バイアス電力・ガス種の最適化で緩和します。
主要メーカーは?▾
Lam Research(Kiyo、Flex シリーズ)、Applied Materials(Centura シリーズ)、Tokyo Electron(Tactras シリーズ)が世界をリードしています。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目東京エレクトロン(TEL)Tactras™Lam ResearchFlex®(誘電体エッチング)Lam ResearchVantex®(誘電体エッチング)Applied MaterialsProducer® Selectra® Etch
方式反応性イオンエッチング(RIE)RIE・プラズマ ALE・極低温エッチング誘電体エッチング(RIE・クライオエッチング)ラジカルベースの選択エッチング(等方性)
主要用途マスク/絶縁膜エッチング・BEOL 絶縁膜Low-k デュアルダマシン・SAC・キャパシタ・3D NAND 高アスペクト比ホール3D NAND の高アスペクト比の穴・溝・コンタクト、キャパシタセルFinFET・GAA・3D NAND のリセス・DRAM の高アスペクト比構造
1機種だけが掲載している項目(6件)
対応ウェハ径300 mm———
チャンバー構成最大 6 チャンバー(水平対向設計)———
主な技術—マルチ周波数閉じ込めプラズマ・AMMP(混合モードパルス)——
シリーズ構成—Exelan Flex/Flex45/Flex D・E・F・G・H シリーズ——
特徴——先進の RF 技術・均一性制御・Equipment Intelligence—
対象———絶縁膜・金属膜・半導体膜

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

代表製品・スペック

製品写真
東京エレクトロン(TEL)

Tactras™

東京エレクトロンの 300mm 対応プラズマエッチング装置。マスク&絶縁膜エッチング、BEOL 絶縁膜エッチング向けの仕様がある。

対応ウェハ径300 mm
方式反応性イオンエッチング(RIE)
チャンバー構成最大 6 チャンバー(水平対向設計)
主要用途マスク/絶縁膜エッチング・BEOL 絶縁膜
製品写真
Lam Research

Flex®(誘電体エッチング)

Lam Research の誘電体エッチング用プロダクトファミリー。マルチ周波数・小容積の閉じ込めプラズマで、絶縁膜の微細・高アスペクト比加工を行う。

方式RIE・プラズマ ALE・極低温エッチング
主な技術マルチ周波数閉じ込めプラズマ・AMMP(混合モードパルス)
シリーズ構成Exelan Flex/Flex45/Flex D・E・F・G・H シリーズ
主要用途Low-k デュアルダマシン・SAC・キャパシタ・3D NAND 高アスペクト比ホール
製品写真
Lam Research

Vantex®(誘電体エッチング)

先端メモリの深い穴や溝を掘る Lam の最新の誘電体エッチング装置。クライオエッチングにも対応する。

方式誘電体エッチング(RIE・クライオエッチング)
特徴先進の RF 技術・均一性制御・Equipment Intelligence
主要用途3D NAND の高アスペクト比の穴・溝・コンタクト、キャパシタセル
製品写真
Applied Materials

Producer® Selectra® Etch

ラジカル系の化学反応で、絶縁膜・金属・半導体膜を原子レベルの精度と高い選択比で除去する Applied Materials の選択エッチング装置。

方式ラジカルベースの選択エッチング(等方性)
対象絶縁膜・金属膜・半導体膜
主要用途FinFET・GAA・3D NAND のリセス・DRAM の高アスペクト比構造

※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

メーカー

3社の主要メーカー

東京エレクトロン(TEL)日本

世界第3位の半導体製造装置メーカー。塗布現像、成膜、エッチング装置で高いシェアを誇り、先端プロセスに不可欠な技術を提供。

塗布現像装置
CLEAN TRACK ACTCLEAN TRACK LITHIUS
エッチング装置
TactrasCertas
成膜装置
EpisodeTriase+TELINDY PLUS
  • •コータ/デベロッパで世界トップクラスのシェア
  • •塗布、成膜、エッチング装置の総合ラインナップ
会社詳細
Lam Research米国

エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。

エッチング装置
KiyoFlexVantexAkara
成膜装置
デポジションシステム
洗浄装置
ウェーハ洗浄装置
  • •エッチング装置で世界シェア約39%のトップポジション
  • •原子層エッチング(ALE)技術における技術リーダーシップ
会社詳細
Applied Materials米国

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

成膜装置
CVDPVDALD
エッチング装置
エッチングシステム
CMP・イオン注入
CMP装置イオン注入装置
  • •世界最大の半導体製造装置サプライヤー
  • •成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオ
会社詳細

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