SEMICONDUCTOR BASICS — 比較記事

2D NANDと3D NANDの違い(積層構造・コスト・信頼性の比較)

2D NAND(プレーナーNAND)はフラッシュメモリセルをウェハ平面上に並べる構造で、2014年頃まで主流でしたがプロセス微細化の限界に直面しました。3D NAND(垂直NAND / V-NAND)はセルを垂直方向に積み上げる構造で、微細化なしに大容量化とコスト削減を両立します。現在の量産NANDはほぼすべて3D構造で、積層数の競争(Samsung 290層・Kioxia 218層・Micron 232層・SK Hynix 321層)が続いています。

最終更新: 2026-08-02

結論:2D NAND(プレーナー)3D NAND(垂直積層)の違いは?

2D NANDと3D NANDの最大の違いは「微細化で容量を稼ぐか積層で稼ぐか」です。2D NANDはセルを平面に並べる構造で、15〜16nm程度が実用限界となりセル間干渉でコスト削減が頭打ちになりました。3D NANDはセルを垂直に数十〜300層超積み上げるため微細化なしで大容量化でき、ビットコストが継続的に下がります。現在の量産NANDはほぼすべて3D構造で、Samsung 290層・SK Hynix 321層など積層数の競争が続いています。

比較表

2D NAND(プレーナー)3D NAND(垂直積層)
2D NAND(プレーナー)3D NAND(垂直積層)観点別比較
観点2D NAND(プレーナー)3D NAND(垂直積層)
セル配置ウェハ平面上に2次元配置垂直方向に数十〜300層超積み上げ
プロセスノード15〜16nm程度が実用限界(それ以下は干渉問題)微細化不要(積層数で容量を稼ぐ)
ビットコスト微細化限界でコスト削減が頭打ち積層増加でビットコスト継続低下(128層→200層超で40%超削減)
書き換え耐久性(TLC比較)TLC:約3,000〜5,000回TLC:約1,000〜3,000回(微細化が不要でも積層で悪化しやすい)
読み書き速度シンプルな構造で動作が安定積層数増加でワードライン充電時間が増え遅延が発生しやすい
製造難度・歩留まりプロセスが成熟・歩留まり高い積層数増加で孔あけ(エッチング)が困難・歩留まり管理が課題
容量(単一チップ)最大128Gb程度が上限1Tb超(2025年時点・積層数次第でさらに増加)
主要メーカー(現在ほぼ撤退・旧世代品のみ)Samsung・Kioxia・WD・Micron・SK Hynix・YMTC

3D NANDの積層数競争と課題

2023〜2025年にかけてNANDメーカーは積層数で激しく競争しています。Samsung Vシリーズ290層・Micron 232層・SK Hynix 321層・Kioxia/WDは218層(BiCS 8)を量産し、中国YMTCも232層に到達しています。積層数が増えると深いホール(穴)エッチングが必要になり、エッチング精度・アスペクト比・チャネルホール側壁の均一性が難易度を決めます。また積層数増加でワードライン数が増え、読み出し動作時の電圧印加時間が伸び速度性能が課題になります。これを解決するため「多デッキ積層」(2〜4デッキを接合)の手法も採用されています。

PLC(5ビットセル)NANDとQLC・TLCの使い分け

3D NANDは1セルに蓄えるビット数でSLC(1bit)・MLC(2bit)・TLC(3bit)・QLC(4bit)・PLC(5bit)と分かれます。ビット数が増えるほど容量・コストで有利ですが、書き換え耐久性・速度が低下します。データセンター向けSSDはTLC(耐久性と容量のバランス)が主流ですが、コールドデータ長期保存用途ではQLC採用も増えています。Micronは2023年にPLC NANDをデータセンター向けに量産開始し、さらなる低コスト化を狙っています。

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よくある質問

3D NANDの耐久性は2D NANDより低いのですか?
積層数の増加とともに書き換え耐久性が低下する傾向があります。ただしSLCキャッシュの活用・ECC強化・ウェアレベリングアルゴリズムで実用耐久性は維持されており、民生用SSDでの体感は大きく変わりません。耐久性が重要なエンタープライズ用途では独立したSLCチップを採用するケースもあります。
中国のYMTC 232層NANDは世界水準ですか?
YMTCのXtacking 3.0(232層)は技術的に世界最先端クラスに達していると評価されています。ただし米国の輸出規制でEUV・先端製造装置の調達が制限されており、量産スケールと歩留まりで韓国・日本勢との差が残るとされています。
SSDのTBWとNANDの種類は関係ありますか?
直接関係します。TBW(総書き込みバイト数)はNANDの書き換え耐久性と容量の積で決まります。SLC > MLC > TLC > QLCの順で耐久性が低く、同容量ならTBWも下がります。ただしSSDコントローラのSLCキャッシュ・ウェアレベリング・ECC設計でTBW仕様は大きく左右されます。

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