スキャンテスト（Scan Test）は、テスト容易化設計（DFT）の代表的手法で、チップ内部のフリップフロップを数珠つなぎにしてスキャンチェーンを構成し、内部の状態を外部から自由に設定（制御）・読み出し（観測）できるようにする技術です。これにより、本来は外部から見えない内部論理の故障を効率よく検出できます。
動作は、テストモードでスキャンチェーンにテストパターンを直列に流し込み（スキャンイン）、1クロックで通常動作（キャプチャ）させて結果を取り込み、再び直列に読み出して（スキャンアウト）期待値と比較します。テストパターンはATPG（自動テストパターン生成）ツールが自動生成します。
故障モデルには、信号が0や1に固定される縮退故障（stuck-at）や、遷移の遅れを見る遷移故障などがあり、これらに対する故障検出率（テストカバレッジ）で品質を測ります。DFTやBIST（自己テスト）と組み合わせ、テスト品質と効率を高めます。
生成されたパターンは、ATE（自動テスト装置）でウェハやパッケージ製品に印加され、良品・不良品を判定します。スキャンチェーンの挿入は回路面積・配線の増加というオーバーヘッドを伴いますが、テスト性向上の効果が上回ります。dftやate、kgdの項とあわせて、テスト工程の体系が理解できます。
