CVD與PVD最大的差異在於「薄膜沉積原理」。CVD是以熱或電漿使原料氣體反應的化學氣相沉積,即使是高深寬比結構也能均勻覆蓋,階梯覆蓋率優異,廣泛用於絕緣膜與阻障膜。PVD則是以濺鍍或蒸鍍將靶材以物理方式擊出並沉積,段差的側壁容易變薄,但能在室溫至300°C的低溫下沉積高純度金屬膜,適合金屬導線與阻障金屬。
主要差異
| 比較項目 | CVD(化學氣相沉積) | PVD(物理氣相沉積) |
|---|---|---|
| 薄膜沉積原理 | 氣相化學反應(以熱、電漿等使原料氣體分解、反應並沉積於基板上) | 物理性沉積(以濺鍍或蒸鍍使靶材粒子飛出並附著於基板) |
| 代表性製程 | PECVD(電漿CVD)、LPCVD(熱CVD)、ALD、SACVD、HDPCVD | DC濺鍍、RF濺鍍、磁控濺鍍、電子束蒸鍍、離子鍍 |
| 階梯覆蓋率(共形性) | 優異(PECVD、ALD等即使在高深寬比結構也能均勻覆蓋) | 以直線視線(line-of-sight)沉積為主,段差的側壁與底部容易變薄 |
| 沉積溫度 | 依膜種為200~900°C(PECVD為低溫,LPCVD為高溫) | 在較低溫(室溫至300°C左右)下也能沉積 |
| 膜的純度與組成 | 副產物(H、Cl等)可能混入膜中。組成由原料氣體控制 | 容易得到接近靶材組成的高純度膜。也可使用合金靶材 |
| 主要膜種與用途 | SiO₂(STI、ILD)、Si₃N₄、poly-Si、W-plug、High-k絕緣膜(HfO₂等) | Al、Cu seed、Ti、TiN、Ta、TaN(阻障金屬)、磁性膜(MRAM) |
| 代表性設備廠商 | 應用材料(Centura)、科林研發、東京威力科創(Trias)、ASM International | 應用材料(Endura)、愛發科(ULVAC)、Canon Anelva、芝浦機電 |
| 設備價格區間(參考) | 數億至數十億日圓(PECVD:5~20億日圓,ALD類:10~30億日圓以上) | 數億至20億日圓左右(依濺鍍機型與腔體數而定) |
| 真空度要求 | 低至中真空(PECVD:0.1~10 Torr左右) | 需要高真空(10⁻⁶ Torr以下) |
CVD的主要種類與特點
CVD依能量來源與壓力條件分為多種方式。PECVD(電漿增強CVD)利用RF電漿實現低溫(200~450°C)沉積,廣泛用於金屬導線形成後的ILD(層間介電層)與保護層(passivation)。LPCVD(低壓CVD)以高溫(550~900°C)形成高品質薄膜,用於poly-Si、Si₃N₄、TEOS氧化膜。ALD(原子層沉積)是CVD的一種,透過交替供應前驅物,可以1個原子層為單位控制沉積,是精度最高的製程。
PVD的主要種類與特點
PVD的主流是濺鍍,以Ar離子撞擊靶材,將原子擊出並沉積於晶圓上。磁控濺鍍以磁場侷限電漿,實現高效率沉積。IMP(離子化金屬電漿)濺鍍利用Ar離子使沉積粒子再離子化,改善高深寬比孔底的階梯覆蓋率。在銅導線製程中,阻障金屬(TaN/Ta)與Cu晶種層的沉積使用PVD。
CVD與PVD的選擇思路
依膜的功能與製程條件選擇製程。絕緣膜(SiO₂、Si₃N₄)與極薄閘極絕緣膜(High-k)以CVD/ALD為主,阻障金屬(TiN、TaN、Ta)與金屬晶種層則基本上使用PVD(濺鍍)。典型組合為:高深寬比的通孔與溝槽填充用ALD,金屬導線用CVD(W-plug)或CVD+電鍍(Cu),磁性與光學薄膜用濺鍍PVD。