比較最後更新 2026年10月8日

CVD與PVD的差異(薄膜沉積製程比較)

CVD(Chemical Vapor Deposition:化學氣相沉積)透過氣相化學反應沉積薄膜;PVD(Physical Vapor Deposition:物理氣相沉積)則以濺鍍、蒸鍍等物理方法使靶材附著於晶圓上。CVD的階梯覆蓋率(共形性)優異,廣泛用於絕緣膜與阻障膜;PVD因膜的純度高、低溫沉積容易控制,適合金屬導線與阻障金屬。在現代半導體製造中,依製程步驟分別運用CVD、PVD與ALD是不可或缺的。

Verdict結論

CVD與PVD最大的差異在於「薄膜沉積原理」。CVD是以熱或電漿使原料氣體反應的化學氣相沉積,即使是高深寬比結構也能均勻覆蓋,階梯覆蓋率優異,廣泛用於絕緣膜與阻障膜。PVD則是以濺鍍或蒸鍍將靶材以物理方式擊出並沉積,段差的側壁容易變薄,但能在室溫至300°C的低溫下沉積高純度金屬膜,適合金屬導線與阻障金屬。

主要差異

CVD(化學氣相沉積)與PVD(物理氣相沉積)依比較項目比較
比較項目CVD(化學氣相沉積)PVD(物理氣相沉積)
薄膜沉積原理氣相化學反應(以熱、電漿等使原料氣體分解、反應並沉積於基板上)物理性沉積(以濺鍍或蒸鍍使靶材粒子飛出並附著於基板)
代表性製程PECVD(電漿CVD)、LPCVD(熱CVD)、ALD、SACVD、HDPCVDDC濺鍍、RF濺鍍、磁控濺鍍、電子束蒸鍍、離子鍍
階梯覆蓋率(共形性)優異(PECVD、ALD等即使在高深寬比結構也能均勻覆蓋)以直線視線(line-of-sight)沉積為主,段差的側壁與底部容易變薄
沉積溫度依膜種為200~900°C(PECVD為低溫,LPCVD為高溫)在較低溫(室溫至300°C左右)下也能沉積
膜的純度與組成副產物(H、Cl等)可能混入膜中。組成由原料氣體控制容易得到接近靶材組成的高純度膜。也可使用合金靶材
主要膜種與用途SiO₂(STI、ILD)、Si₃N₄、poly-Si、W-plug、High-k絕緣膜(HfO₂等)Al、Cu seed、Ti、TiN、Ta、TaN(阻障金屬)、磁性膜(MRAM)
代表性設備廠商應用材料(Centura)、科林研發、東京威力科創(Trias)、ASM International應用材料(Endura)、愛發科(ULVAC)、Canon Anelva、芝浦機電
設備價格區間(參考)數億至數十億日圓(PECVD:5~20億日圓,ALD類:10~30億日圓以上)數億至20億日圓左右(依濺鍍機型與腔體數而定)
真空度要求低至中真空(PECVD:0.1~10 Torr左右)需要高真空(10⁻⁶ Torr以下)

CVD的主要種類與特點

CVD依能量來源與壓力條件分為多種方式。PECVD(電漿增強CVD)利用RF電漿實現低溫(200~450°C)沉積,廣泛用於金屬導線形成後的ILD(層間介電層)與保護層(passivation)。LPCVD(低壓CVD)以高溫(550~900°C)形成高品質薄膜,用於poly-Si、Si₃N₄、TEOS氧化膜。ALD(原子層沉積)是CVD的一種,透過交替供應前驅物,可以1個原子層為單位控制沉積,是精度最高的製程。

PVD的主要種類與特點

PVD的主流是濺鍍,以Ar離子撞擊靶材,將原子擊出並沉積於晶圓上。磁控濺鍍以磁場侷限電漿,實現高效率沉積。IMP(離子化金屬電漿)濺鍍利用Ar離子使沉積粒子再離子化,改善高深寬比孔底的階梯覆蓋率。在銅導線製程中,阻障金屬(TaN/Ta)與Cu晶種層的沉積使用PVD。

CVD與PVD的選擇思路

依膜的功能與製程條件選擇製程。絕緣膜(SiO₂、Si₃N₄)與極薄閘極絕緣膜(High-k)以CVD/ALD為主,阻障金屬(TiN、TaN、Ta)與金屬晶種層則基本上使用PVD(濺鍍)。典型組合為:高深寬比的通孔與溝槽填充用ALD,金屬導線用CVD(W-plug)或CVD+電鍍(Cu),磁性與光學薄膜用濺鍍PVD。

常見問題

CVD與PVD最大的差異是什麼?
最大的差異在於薄膜形成的機制。CVD利用氣相化學反應形成薄膜,階梯覆蓋率(共形性)優異。PVD以濺鍍或蒸鍍等物理方法使靶材附著於基板,特點是膜的純度高、容易低溫沉積。兩者依膜種分別使用,絕緣膜多用CVD,阻障金屬與金屬導線多用PVD。
濺鍍屬於CVD還是PVD?
濺鍍是PVD(物理氣相沉積)的一種。以Ar離子撞擊固態靶材,將被擊出的靶材原子沉積於晶圓上。方式包括DC濺鍍、RF濺鍍、磁控濺鍍等,廣泛用於金屬膜(Al、Cu seed、Ti、TaN等)的沉積。
PECVD是什麼樣的薄膜沉積方法?(PECVD是什麼)
PECVD(Plasma Enhanced CVD:電漿增強化學氣相沉積)是以RF或微波電漿在低溫下活化反應氣體、促進化學反應的一種CVD方式。藉由電漿活化,可將一般CVD(僅靠熱的熱CVD)所需的600~900°C降低至200~450°C。因此是金屬導線製程(Back-end-of-line)後形成低溫絕緣膜(ILD、保護層)不可或缺的技術。
在半導體製造中,CVD與PVD用在哪些製程?
在前段製程(FEOL:元件形成)中,閘極絕緣膜(High-k CVD/ALD)、poly-Si(LPCVD)、STI填充氧化膜(HDPCVD)使用CVD。在後段的導線形成(BEOL)中,一般組合為阻障金屬(TaN/Ta以PVD濺鍍)、Cu晶種層(PVD濺鍍)、層間介電層(SiO₂以PECVD)、W-plug(WF₆ CVD)。
CVD與PVD哪一個的階梯覆蓋率較好?
一般而言CVD的階梯覆蓋率(共形性)較優異。特別是ALD(原子層沉積,CVD的一種)即使在深寬比50:1以上的結構中也能實現均勻膜厚。PVD的粒子以直線視線(line-of-sight)方式飛來,因此深溝或深孔的側壁與底部容易變薄,這是其弱點。不過IMP(離子化金屬電漿)濺鍍等改良型PVD已提高指向性,改善段差部位的覆蓋率。
CVD與PVD的設備廠商相同嗎?
應用材料(Applied Materials)在CVD(Centura PECVD等)與PVD(Endura濺鍍)兩方面都擁有全球最高市占率。科林研發(Lam Research)在CVD、ALD也是主力廠商。在PVD(濺鍍)方面,日本的愛發科(ULVAC)、Canon Anelva、芝浦機電也具優勢。CVD方面則以東京威力科創(TEL)、ASM International實力堅強。

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