半導體用語:台灣・中國大陸・英文對照

同一個半導體用語,台灣與中國大陸的說法常常不同。依製程整理台灣業界常用的說法,並列出中國大陸用語與英文,讀兩岸資料與英文文獻時可以對照查詢。

差異最大的基本用語

「晶片/芯片」「矽/硅」「電漿/等离子体」這類基本詞,兩岸用字就不同。先記住這些,讀中國大陸的資料會順很多。

台灣用語中國大陸用語英文
半導體半导体Semiconductor
晶片芯片Chip
積體電路集成电路Integrated Circuit (IC)
矽硅Silicon
晶圓晶圆/硅片Wafer
製程工艺/制程Process
良率良率/成品率Yield
電晶體晶体管Transistor
記憶體存储器/内存Memory
晶圓代工晶圆代工Foundry
前段製程前道工序Front-End Process
電漿等离子体Plasma
雷射激光Laser
碳化矽碳化硅Silicon Carbide (SiC)
氮化鎵氮化镓Gallium Nitride (GaN)

重要用語解說

先進製程與先進封裝的關鍵用語,說明定義、原理與相關設備。

  • CoWoS
    CoWoS 是台積電開發的 2.5D 先進封裝技術:把運算晶片與 HBM 記憶體並排放在中介層上,再接到封裝載板,讓晶片之間以極短距離、極高頻寬互連。
  • HBM
    HBM(高頻寬記憶體)是把多顆 DRAM 晶片以矽穿孔(TSV)垂直堆疊的記憶體,介面寬度遠大於一般 DRAM,是 AI 加速器與高效能運算不可或缺的元件。
  • EUV(極紫外光)微影
    EUV 是波長 13.5 奈米的極紫外光。以 EUV 進行曝光,可以用一次曝光做出 7 奈米級以下的微細圖形,是先進邏輯與記憶體製程的關鍵技術。
  • 先進封裝
    先進封裝是把多顆晶片以高密度互連整合在一起的封裝技術總稱,包括 2.5D、3D 堆疊與扇出型封裝。在電晶體微縮越來越困難的時代,它成為提升系統效能的主要手段之一。
  • 晶圓代工與 Fabless、IDM
    半導體企業依是否自行設計與製造,分為 IDM(設計到製造一手包辦)、Fabless(只做設計)與晶圓代工(只接受委託製造)三種經營模式。
  • FinFET(鰭式場效電晶體)
    FinFET 是把電晶體的通道做成直立的「鰭」狀,讓閘極從三面包覆通道的立體電晶體結構,用來抑制微縮後越來越嚴重的漏電流。
  • GAA(環繞式閘極)
    GAA 是閘極從四面完全包覆通道的電晶體結構,通道做成多層水平的奈米片,是繼 FinFET 之後先進邏輯製程的新一代電晶體。
  • 良率
    良率是良品晶片占全部晶片的比例。良率越高,同樣的晶圓與設備能產出越多可出貨的晶片,是晶圓廠成本與獲利最直接的指標。
  • 光阻
    光阻是微影製程使用的感光材料。塗在晶圓上經過曝光與顯影後形成圖形,作為後續蝕刻或離子佈植的遮罩。
  • CMP(化學機械研磨)
    CMP 是以研磨液的化學作用與研磨墊的機械作用同時進行,把晶圓表面磨平的製程。多層導線結構的晶片,每一層都需要 CMP 才能做出下一層。
  • 磊晶
    磊晶是在單晶基板上,沿著基板的晶格方向成長一層單晶薄膜的技術。從矽磊晶晶圓、先進電晶體的源極與汲極,到氮化鎵元件,都會用到磊晶。
  • 矽穿孔(TSV)
    矽穿孔(TSV)是垂直貫穿矽晶片、內部填入金屬的導通孔,讓上下堆疊的晶片以最短的距離連接,是 HBM 與 3D 封裝的核心技術。

依製程查詢

  • 微影(曝光)(13 個用語)
    微影是把電路圖形轉印到晶圓上的步驟。台灣說「微影」「光阻」「光罩」,中國大陸則說「光刻」「光刻胶」「掩膜版」。
  • 蝕刻(13 個用語)
    蝕刻是依照光阻圖形移除不要的薄膜。台灣說「蝕刻」「電漿」,中國大陸說「刻蚀」「等离子体」。
  • 薄膜沉積(13 個用語)
    薄膜沉積是在晶圓上長出絕緣膜、導體膜與半導體膜。台灣說「沉積」「濺鍍」「磊晶」,中國大陸說「沉积」「溅射」「外延」。
  • 清洗與化學機械研磨(CMP)(14 個用語)
    清洗是去除微粒與污染,CMP 是把晶圓表面磨平。台灣說「化學機械研磨」「研磨液」,中國大陸說「化学机械抛光」「抛光液」。
  • 離子佈植與熱處理(13 個用語)
    離子佈植把雜質打進矽裡,熱處理(退火)讓雜質活化、修復晶格。台灣說「離子佈植」「爐管」,中國大陸說「离子注入」「炉管/热处理」。
  • 封裝與測試(19 個用語)
    封裝與測試合稱「封測」,屬於後段製程。台灣說「封測」「覆晶」「打線」,中國大陸說「封测」「倒装」「引线键合」。

用語表的寫法

「台灣用語」以台灣業界常用的說法為準,「中國大陸用語」列出當地常見的說法;同一個概念有多種說法時以「/」分隔,較常用的放前面。

最後更新:2026-10-06