露光解像度・焦点深度 計算ツール(レーリーの式)
要点
リソグラフィで到達できる最小解像度はレーリーの式 R = k₁ × λ / NA で決まり、焦点深度は DOF = k₂ × λ / NA² で決まります。解像度を上げるには波長λを短く、開口数NAを大きく、プロセス係数k₁を小さくすればよいのですが、NAを上げると焦点深度が2乗で浅くなるというトレードオフがあります。このツールはその関係を数値で確かめるためのものです。
入力
解像度 R = k₁λ/NA16.36nm
焦点深度 DOF = k₂λ/NA²61.98nm
到達可能なハーフピッチの目安16.4nm
k₁は解像度向上技術(OPC・位相シフトマスク・変形照明)の成熟度を表す係数で、単一露光の理論限界は0.25です。k₂は焦点深度の定義によって0.5前後の値が使われます。NAを上げると解像度は改善しますが、焦点深度はNAの2乗に反比例して浅くなる点に注意してください。
関連する用語
- NA(開口数)NA (Numerical Aperture)
- レーリーの式(解像度・焦点深度)Rayleigh Equation
- EUV(極紫外線)EUV (Extreme Ultraviolet)
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