FormFactor

プローブカード・ウェハプローバの世界的リーダー。先端ロジック・DRAM・3D-IC向け超高精度電気テストインターフェースを提供。

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当サイトでの位置づけ

Semiraiのプローブカード・ウェハテストカテゴリでは、先端ロジック・DRAM・3D-ICのウェハレベル電気特性評価を担うインターフェース技術として参照されます。

企業の強み

プローブカードでグローバルトップシェア
先端ノード(2nm以下)対応の超精密プロービング
DRAM・HBM・3D-IC向け特化製品ラインナップ

主要製品・ソリューション

プローブカード

  • •MEMSプローブカード
  • •カンチレバープローブ

ウェハプローバ

  • •プローバシステム

FormFactorの製品

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半導体製造装置メーカーの世界シェア&カオスマップ
ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、FormFactorを含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。
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比較・違いを学ぶ

ウェハテストと最終テストの違い(半導体テスト工程比較)
ウェハテスト(Wafer Test / CP:Circuit Probe)はウェハ状態のままプローバーで各ダイの電気特性を測定し、不良ダイを封止前に弾く工程です…
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ATPGとBISTの違い(テストパターンをどこで作るか)
どちらもDFT(テスト容易化設計)の枠組みに属する技術ですが、テストの実行主体が外にあるか内にあるかという点で対照的です。実際のSoCでは両者を組み合わせ、メモ…
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HTOLとバーンインの違い
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