FT/IR-4X 是日本分光（JASCO）的傅立葉轉換紅外光譜儀（FTIR）。這是從紅外光的吸收光譜調查有機物等分子結構的設備，在半導體領域用於有機污染與樹脂材料的分析。
密閉式干涉儀採用角隅稜鏡（corner cube mirror），即時抵銷外部擾動的影響。以 24 位元 A/D 轉換器、低雜訊電子系統、高亮度光源與高性能偵測器實現 35,000:1 的高 S/N 比，可量測微量樣品。最高解析度為 0.4cm⁻¹，也能量測氣體的振動光譜。以半導體雷射獲得與 He-Ne 雷射同等的 0.0005cm⁻¹ 波數精度。
本體尺寸僅 386(W)×479(D)mm，耗電量比過去減少 30%。採不需整夜通電與更換乾燥劑的免維護結構，並具備自我診斷功能。可對應每秒 80 條光譜的快速掃描，並可增設 MCT 或 InGaAs 偵測器。