最後更新:2026年10月23日超音波掃描顯微鏡(SAT)

SAM Auto Wafer的特點與規格

PVA TePla・超音波掃描顯微鏡(SAT)

可自動傳送 8 吋・12 吋晶圓的超音波顯微鏡(SAM)。支援 ISO 5 無塵室。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

SAM Auto Wafer 是 PVA TePla 掃描式超音波顯微鏡(SAM)中支援晶圓自動傳送的機型。依半導體業界標準開發,可準確處理 8 吋與 12 吋晶圓,並可在 ISO Class 5 的無塵室使用。

超音波顯微鏡是將高頻換能器發出的超音波脈衝,經由純水等介質照射到試片上,並將內部介面的反射成像的設備。超音波在空氣層幾乎全反射,因此能以清晰的對比偵測微裂紋、異物、氣泡與剝離。

據 PVA TePla 表示,該公司的超音波顯微鏡支援最高 1,000MHz 的頻率,視材料而定可達到 0.8µm 的解析度。該公司產品陣容還有 SAM Auto Tray、SAM Auto Panel,以及研發用的 SAM Lab。

主要規格

方式掃描式超音波顯微鏡(SAM)
適用晶圓8 吋・12 吋
無塵室支援 ISO Class 5

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

8 吋・12 吋晶圓的自動傳送
支援 ISO Class 5 無塵室
最高 1,000MHz 的頻率、最小 0.8µm 的解析度(該公司 SAM 整體的數值)

主要用途

  • 接合晶圓・MEMS 的內部缺陷檢測
  • 先進封裝剝離・空洞的非破壞檢測

製造商

PVA TePla(總部:德國)

所屬設備分類

相關用語

同分類的其他機型

PVA TePla的其他機型

資料來源

  1. PVA TePla 官方產品頁面:PVA TePla SAM Auto Wafer