Yield Explorer 是新思科技（Synopsys）以設計為中心的良率管理（Design Centric Yield Management）解決方案。將與良率相關之眾多資料來源的資訊整合到 1 個分析平台。
具備彙整實體設計流程、晶圓製造、晶圓・晶片級測試資料的資料庫，將 ATE 測試結果、晶圓參數資料、DRC 旗標、時序分布相互關聯，以分析根本原因。廠商表示在複雜案例中，量化診斷（volume diagnosis）分析可比既有方式快 10 倍。
以同步元件架構將流入的資料整合為一致的分析，可使用互動式圖表、試算表、晶圓圖，以及設計資料的疊加顯示。資料模型可擴充，分析用戶端可在 Windows・Linux・UNIX 上執行。定位為補足新思科技 TestMAX 診斷解決方案的產品。