Yield Explorer／SiliconDash
設計・ウェーハ製造・テストのデータを1つのデータバンクに集めて歩留まり阻害要因を探す Yield Explorer と、製造・テスト運用をリアルタイムに把握する SiliconDash。
Yield Explorer／SiliconDashとは
Yield Explorer は、Synopsys の設計中心の歩留まり管理（Design Centric Yield Management）ソリューションです。歩留まりに関わる多くのデータ源の情報を、1 つの分析基盤にまとめます。
物理設計フロー、ウェーハ製造、ウェーハ・チップレベルのテストからのデータを集約したデータベースを持ち、ATE のテスト結果、ウェーハのパラメトリックデータ、DRC のフラグ、タイミング分布を相関させて根本原因を解析します。複雑なケースでは、ボリューム診断解析を従来比 10 倍速く行えるとしています。
同期コンポーネントアーキテクチャで流入するデータを一貫した分析にまとめ、インタラクティブなチャート、スプレッドシート、ウェーハマップ、設計データの重ね表示を使えます。データモデルは拡張でき、分析クライアントは Windows・Linux・UNIX で動きます。Synopsys TestMAX の診断ソリューションを補完する位置づけです。
主な特長
- •設計・製造・テストのデータを統合
- •ATE 結果・パラメトリック・DRC・タイミングの相関
- •ボリューム診断を最大 10 倍高速化
- •ウェーハマップ・設計オーバーレイ
主な仕様
| 提供形態 | Silicon Lifecycle Management（SLM）製品群 |
|---|---|
| 対象データ | 設計フロー・ファブ・ウェーハ／チップテスト・モニタ／センサー |
| 主要用途 | 初期シリコンのデバッグ・量産歩留まり改善 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | PDF SolutionsExensio® Analytics Platform | SynopsysYield Explorer／SiliconDash |
|---|---|---|
| 提供形態 | エンタープライズ分析プラットフォーム（モジュール構成） | Silicon Lifecycle Management（SLM）製品群 |
| 対象データ | FDC・特性評価・テスト・組立データ | 設計フロー・ファブ・ウェーハ／チップテスト・モニタ／センサー |
| 主要用途 | IDM・ファウンドリ・ファブレスの歩留まり立ち上げ | 初期シリコンのデバッグ・量産歩留まり改善 |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •設計起因を含む歩留まり問題の根本原因解析
- •テスト診断と連携した歩留まり改善
掲載カテゴリ
Yield Explorer／SiliconDashは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
世界最大のEDA（電子設計自動化）ソフトウェア企業。論理合成・配置配線・物理検証・TCAD・IPライセンスを提供し、チップ設計の全工程をカバー。