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Hermes Microvision(HMI)

電子ビーム(eビーム)を用いたウェハ・マスク欠陥検査装置の専業メーカー。2016年にASMLが買収し、EUVリソグラフィ向け欠陥検出・レビュー技術を強化する役割を担う。

🌐 米国装置メーカー公式サイト

当サイトでの位置づけ

Semirai の検査装置カテゴリでは、ASML傘下のeビーム欠陥検査専業メーカーとして、EUVマスク・ウェハ検査の高感度化を支える立場にあります。

企業の強み

eビーム欠陥検査でトップクラスの検出感度
ASML傘下でEUV関連技術と密接に連携
マスク・ウェハ双方の検査に対応

主要製品・ソリューション

検査装置

  • eビームウェハ検査装置
  • eビームレビュー装置

📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア&カオスマップ

ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、Hermes Microvision(HMI)を含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。

関連用語

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比較・違いを学ぶ

電子ビーム検査と光学検査の違い(欠陥検査方式の比較)
電子ビーム検査(E-beam Inspection)は電子ビームでウェハを走査し二次電子・反射電子像から欠陥を検出する方式で、数nm級の微小欠陥や配線のオープン
Hermes Microvision(HMI) 公式サイトへ

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