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ノヴァ・メジャリング・インスツルメンツ(Nova)

光学式膜厚計測・オーバーレイ計測装置の専業メーカー。イスラエル発のプロセス制御計測企業で、先端ロジック・メモリの歩留まり管理向け計測装置を供給する。

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当サイトでの位置づけ

Semirai の計測装置カテゴリでは、光学式膜厚・オーバーレイ計測の専業メーカーとして、先端ノードの工程管理を支える立場にあります。

企業の強み

光学式膜厚・オーバーレイ計測に特化
先端ノード向けプロセス制御に強み
イスラエル発の独立系計測メーカー

主要製品・ソリューション

計測装置

  • 光学式膜厚計測装置
  • オーバーレイ計測装置

📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア&カオスマップ

ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、ノヴァ・メジャリング・インスツルメンツ(Nova)を含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。

関連用語

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比較・違いを学ぶ

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