ICPMS-2050 是島津製作所（Shimadzu）的 ICP 質譜儀（ICP-MS）。以感應耦合電漿將試樣離子化，再以質譜分析量測微量元素。在半導體領域，用於化學品、超純水、晶圓表面金屬汙染等極微量雜質分析。
以進化的獨家迷你火炬系統兼顧環境負荷與分析性能。配備新開發的碰撞・反應池與高性能四極柱質量過濾器。
藉由池氣體的高速切換與特殊功能，不需追加選配即可縮短量測時間。設計上將操作人員的操作降到最低，包括在試樣量測期間清洗進樣系統的預沖洗功能、自動最佳化清洗的延伸沖洗、可在電漿點燃後無人運轉的溶液切換閥，以及安裝後即可開始分析的預設方法。榮獲 iF 設計獎 2024 與紅點設計獎 2024。