テストハンドラ（Test Handler）は、半導体デバイスの電気特性検査工程において、製品の自動搬送・温度調節・ソケット接続・選別・マーキングを高速・高精度で実行する自動化装置です。-55℃～+150℃の広範囲温度制御下での信頼性試験にも対応し、良品・不良品の自動分類により検査効率を最大化します。1時間あたり数千～数万個の高スループット処理が可能で、ATEと連携した完全自動化により、後工程における生産性向上とコスト削減に大きく貢献します。