HA1200的特點與規格

HA1200 是愛德萬測試（Advantest）的針測機。透過晶粒層級的高發熱測試，有助於提升高階 SoC 的生產力。

高階 SoC 所使用的小晶片技術雖能實現高運算能力，但堆疊晶粒會提高良品與不良品混雜的風險，導致許多原本應為良品的晶粒、基板與中介層遭到報廢。

透過對單粒化晶粒的高精度自動針測，讓過去只能在最終測試進行的全元件測試可在組裝製程之前進行，防止良品與不良品混合堆疊。以在封裝測試中已有實績、與測試機連動的獨家主動熱控制，也能因應晶粒的高發熱。