M4173 是愛德萬測試（Advantest）面向研發的單站測試分類機。將與量產用測試分類機相同的高效率溫度控制功能收納於可攜式尺寸，最佳化半導體開發中的溫度測試與發熱管理。
在一般以手動放置元件、再依結果分揀的開發現場，提出以自動化提升效率的方案。可透過網路從全球任何地方操作，由不同據點的工程師共用，提高所連接測試系統的稼動率。
可控制 −45℃～125℃ 的溫度範圍，進行常溫・高溫・低溫 3 種測試。直接接觸元件表面進行快速冷卻・加熱，使溫度循環測試的效率比手動提升 40%。可連接各種測試系統，也支援 2D 條碼讀取與重測的自動化。