M4173（テストハンドラ）

世界中から遠隔操作できる研究開発向けのシングルサイトテストハンドラ。−45〜125℃ の温度試験を自動化する。

M4173とは

M4173 は、アドバンテストの研究開発向けのシングルサイトテストハンドラです。量産用ハンドラと同じ高効率な温度制御機能をポータブルなサイズに収め、半導体開発での温度テストや発熱管理を最適化します。

デバイスを手で置いて結果に応じて選別するのが一般的な開発現場に、自動化による効率化を提案します。ネットワークを通じて世界中どこからでも操作でき、異なる拠点の技術者で共有して、接続するテストシステムの稼働率を上げられます。

−45℃〜125℃ の温度範囲を制御でき、常温・高温・低温の 3 種の試験ができます。デバイス表面に直接接触して急速に冷却・加熱し、温度サイクル試験の効率を手動より 40% 改善します。さまざまなテストシステムに接続でき、2D コードの読み取りや再テストの自動化にも対応します。

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目	アドバンテストM6242（テストハンドラ）	アドバンテストM5241（テストハンドラ）	アドバンテストM4841（テストハンドラ）	アドバンテストM4872（テストハンドラ）	アドバンテストM4173（テストハンドラ）	CohuEclipse（テストハンドラ）
温度範囲	—	−40〜+125℃（標準）	−40〜+125℃（オプションで −55〜+175℃）	—	−45〜125℃（Tri-temp）	-45 ～ +155°C
スループット	42,200 個／時	—	毎時 18,500 個	—	—	最大 13,000 UPH
対象	BGA・CSP などのメモリパッケージ	—	—	AI・自動運転向けのハイエンド SoC	—	—
温度制御	-10 ～ 100°C で ±1.5°C	—	—	ATC（大容量の冷却・加熱）	—	—

1機種だけが掲載している項目（9件）

関連機種	M6243・M6241（前機種）	—	—	—	—	—
温度精度	—	±1.0℃（マイクロチャンバー方式）	—	—	—	—
並列数・スループット	—	最大 512 デバイス・最大 46,000 UPH	—	—	—	—
同時測定	—	—	最大 32 個（従来機比 4 倍）	—	—	—
荷重制御	—	—	—	Die Force Control（ダイ部と周囲を別々に制御）	—	—
サイト数	—	—	—	—	シングルサイト（研究開発向け）	—
特徴	—	—	—	—	ネットワーク経由の遠隔操作	—
方式	—	—	—	—	—	ピック＆プレース
並列数	—	—	—	—	—	最大 16 個