M4841 是愛德萬測試（Advantest）的測試分類機，可對 BGA、CSP、QFP 等封裝進行多顆同測的高產能測試，適合可攜式數位裝置與車用半導體的量產。
以最多 32 顆同測（為以往機種的 4 倍）與每小時 18,500 顆（為以往機種的 3 倍以上）的高產能降低測試成本。
具備恆溫槽，可施加 −40℃ 至 +125℃（選配 −55℃～+175℃）的溫度，因此也能因應車用與航空用的嚴苛環境測試。採用可選擇同測數、溫度範圍與處理能力單元的模組化結構，可最佳化導入成本。並搭載可動態因應元件溫度變化的 ATC2.0。