最後更新:2026年10月23日測試分類機(Test Handler)

M5241的特點與規格

愛德萬測試(Advantest)・測試分類機(Test Handler)

面向 DRAM・NAND・HBM 量產測試的次世代記憶體測試分類機。以微腔體方式達到 ±1.0℃ 的溫度精度。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

M5241 是愛德萬測試(Advantest)的次世代記憶體測試分類機。隨著 AI 與資料中心需求擴大,DRAM、NAND、HBM 等記憶體 IC 的測試需要比以往更高的精度、效率與可靠度。

以微腔體方式實現業界最高水準的 ±1.0℃ 溫度精度,可穩定評估自我發熱大的次世代記憶體。以獨家的感測技術與搬運錯誤防止機構大幅減少卡料,提高測試產線的稼動率。

以免調整的運轉方式,以及不需治具的一鍵式更換套件,將維護負擔降到最低。並透過支援 OHT/AMR 與預知保養等功能支援智慧工廠化。可與新型測試機 T5801,以及 T5833、T5503HS2、T5835 垂直連接,最多並測 512 顆元件,最高處理量達 46,000 UPH。

主要規格

溫度精度±1.0℃(微腔體方式)
並測數・產能最多 512 顆元件・最高 46,000 UPH
溫度範圍−40~+125℃(標準)

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

溫度精度 ±1.0℃
最多 512 顆並測・46,000 UPH
大幅減少卡料
一鍵式更換套件

主要用途

  • DRAM・NAND・HBM 的量產測試

製造商與在台據點

在台據點
  • 愛德萬測試(台灣)(新竹縣竹北市):1990 年成立的台灣子公司總部
  • 高雄據點(高雄):就近支援南部封測廠

所屬設備分類

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資料來源

  1. 愛德萬測試(Advantest)官方產品頁面:M5241