最後更新:2026年10月23日光學關鍵尺寸量測設備(OCD)

Nova PRISM的特點與規格

Nova・光學關鍵尺寸量測設備(OCD)

以光譜干涉術(SI)加入相位資訊的光學式 CD 量測平台,並結合機器學習建模。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Nova PRISM 是 Nova 的光學式 CD(OCD)量測平台,結合光譜橢圓偏光術、光譜反射率量測與光譜干涉量測 3 種技術。

核心的光譜干涉量測(SI)被定位為擴展傳統 OCD 能力的技術。透過從多個通道取得的完整光譜資訊提高量測的穩健性,實現不易受製程變異影響的量測。通道可依用途選擇。

結合物理建模的 Nova MARS 與機器學習的 Nova Fit 演算法,最佳化量測性能與生產力。以新平台與光學設計具備量產所需的產能,並採用能因應未來技術演進的模組化設計。用於採用奈米片的先進邏輯、DRAM、3D NAND。

主要規格

量測方式光譜干涉+光譜反射+光譜橢圓偏光術
量測項目CD・形貌(含靈敏度較弱的參數)
主要用途薄膜沉積・蝕刻製程的線上管理

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

光譜橢圓偏光・光譜反射・光譜干涉 3 種技術
Nova MARS(物理模型)與 Nova Fit(機器學習)
面向量產的高產能與模組化設計

主要用途

  • 採用奈米片之先進邏輯的 OCD
  • DRAM・3D NAND 的尺寸量測

製造商

Nova(總部:以色列)

所屬設備分類

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資料來源

  1. Nova 官方產品頁面:Nova PRISM