BI-M 系列是 WINTEST 的監控式預燒設備。對元件施加溫度・電壓・電流負載以加速壽命,篩選早期失效。由於採監控方式,可在預燒中監看元件的動作。
針對各種邏輯 IC、類比 IC、高電壓功率元件 IC 設計。支援多電源,也可用於以最新微細製程製作的元件。另備有以最高動作速度對應低電壓・大電流的版本。
在 DDR3 上有最高 1.6Gbps(125°C)預燒環境的實績。也可依用途客製化。
支援多電源,可讓最新微細製程產品以最大動作速度運作並同時進行預燒的監控式預燒設備。
BI-M 系列是 WINTEST 的監控式預燒設備。對元件施加溫度・電壓・電流負載以加速壽命,篩選早期失效。由於採監控方式,可在預燒中監看元件的動作。
針對各種邏輯 IC、類比 IC、高電壓功率元件 IC 設計。支援多電源,也可用於以最新微細製程製作的元件。另備有以最高動作速度對應低電壓・大電流的版本。
在 DDR3 上有最高 1.6Gbps(125°C)預燒環境的實績。也可依用途客製化。
| 方式 | 監控式預燒 |
|---|---|
| 對象元件 | 邏輯 IC・類比 IC・高耐壓功率元件 IC |
| 相關機型 | BI-D(動態)/BI-T(測試預燒)/QAT(支援 −55 ℃ 低溫) |
| 主要用途 | 早期失效篩選・可靠度評估 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
WINTEST(總部:日本)