最後更新:2026年10月23日預燒系統

監控型預燒 BI-M 系列的特點與規格

WINTEST・預燒系統

支援多電源,可讓最新微細製程產品以最大動作速度運作並同時進行預燒的監控式預燒設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

BI-M 系列是 WINTEST 的監控式預燒設備。對元件施加溫度・電壓・電流負載以加速壽命,篩選早期失效。由於採監控方式,可在預燒中監看元件的動作。

針對各種邏輯 IC、類比 IC、高電壓功率元件 IC 設計。支援多電源,也可用於以最新微細製程製作的元件。另備有以最高動作速度對應低電壓・大電流的版本。

在 DDR3 上有最高 1.6Gbps(125°C)預燒環境的實績。也可依用途客製化。

主要規格

方式監控式預燒
對象元件邏輯 IC・類比 IC・高耐壓功率元件 IC
相關機型BI-D(動態)/BI-T(測試預燒)/QAT(支援 −55 ℃ 低溫)
主要用途早期失效篩選・可靠度評估

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

監控方式的預燒
支援多電源,低電壓・大電流版本
DDR3 最高 1.6Gbps(125°C)的實績

主要用途

  • 邏輯 IC・類比 IC 的預燒
  • 高電壓功率元件 IC 的篩選

製造商

WINTEST(總部:日本)

所屬設備分類

相關用語

同分類的其他機型

WINTEST的其他機型

資料來源

  1. WINTEST 官方產品頁面