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Keysight Technologies

HP/Agilent の計測部門を源流とする米国の電子計測大手。半導体パラメトリックテスタ、デバイスアナライザ、ネットワークアナライザなど、デバイス特性評価と高周波測定の標準機を供給する。

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当サイトでの位置づけ

Semirai のテスト・計測カテゴリでは、半導体パラメトリック測定と高周波計測の標準機を供給する計測器メーカーとして位置づけられます。

企業の強み

半導体パラメトリック計測の事実上の標準
高周波・高速デジタル計測に強み
デバイス評価から量産テストまでの計測基盤

主要製品・ソリューション

計測器

  • パラメトリックテスタ
  • デバイスアナライザ
  • ネットワークアナライザ

📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア&カオスマップ

ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、Keysight Technologiesを含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。

関連用語

ATE(自動テスト)とは →シート抵抗(四探針測定)とは →故障解析(FA)とは →ESD耐性試験(HBM・CDM)とは →

同じトピックの用語

テスト装置 のトピックで関連する用語です。

半導体テストとは →ウェハプローバーとは →テストハンドラーとは →KGD(良品ダイ)とは →バーンインとは →システムレベルテストとは →プローブカードとは →ウェハテスト(プロービング工程)とは →

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比較・違いを学ぶ

ウェハテストと最終テストの違い(半導体テスト工程比較)
ウェハテスト(Wafer Test / CP:Circuit Probe)はウェハ状態のままプローバーで各ダイの電気特性を測定し、不良ダイを封止前に弾く工程です
ATPGとBISTの違い(テストパターンをどこで作るか)
どちらもDFT(テスト容易化設計)の枠組みに属する技術ですが、テストの実行主体が外にあるか内にあるかという点で対照的です。実際のSoCでは両者を組み合わせ、メモ
HTOLとバーンインの違い
どちらも高温で電圧をかけて動作させる試験のため混同されがちですが、位置づけはまったく違います。片方は製品の選別工程であり、もう片方は設計・プロセスの信頼性を認定
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