RADECS（放射線とその部品・システムへの影響会議）

正式名称

RADiation and its Effects on Components and Systems Conference

主催

RADECS Association

次回の会期

未発表（例年9月頃）

開催地

欧州

例年の開催

9月頃・欧州

分野

信頼性・メモリ

格付け

主要国際会議RADECS Associationが主催し、放射線がデバイスに与える影響の分野で継続して開かれている国際会議のため、主要国際会議としています。格付けの決め方

公式サイト

radecs2026.org（2026/10/24 確認）

• ソフトエラー（α線・中性子）

  ソフトエラーとは、宇宙から降り注ぐ放射線や、パッケージの材料に含まれるわずかな放射性物質から出る放射線が半導体のチップに当たり、メモリやラッチ回路に記録されていた0と1が一時的に反転してしまう誤りのことです。

• ラッチアップ

  ラッチアップとは、CMOS構造に寄生的に形成されるサイリスタ（pnpn構造）が意図せず導通し、電源とグラウンドの間に大電流が流れ続けて止まらなくなる現象です。

• 国際電子デバイス会議（IEDM）2026年12月12日〜・サンフランシスコ（米国）
• 国際信頼性物理シンポジウム（IRPS）2027年3月21日〜・サンディエゴ（米国）
• 国際メモリワークショップ（IMW）2027年5月9日〜・モントレー（米国）
• 欧州設計・自動化・テスト会議（DATE）2027年3月22日〜・ドレスデン（ドイツ）
• 欧州電子デバイス信頼性・故障物理・解析シンポジウム（ESREF）例年9月頃
• テスト・故障解析国際シンポジウム（ISTFA）例年10月頃
• 国際テスト会議（ITC）例年10月頃
• IEEEアジアテストシンポジウム（ATS）2026年12月1日〜・高雄（台湾）
• EOS/ESDシンポジウム（EOS/ESD）2027年9月19日〜・リバーサイド（米国）
• IEEE欧州テストシンポジウム（ETS）2027年5月24日〜・ロンドン（英国）
• マイクロエレクトロニクステスト構造国際会議（ICMTS）2027年4月5日〜・ウーディネ（イタリア）
• IEEE集積信頼性ワークショップ（IIRW）例年10月頃
• 集積回路の物理と故障解析国際シンポジウム（IPFA）例年7月頃
• IEEE原子核・宇宙放射線効果会議（NSREC）2027年7月19日〜・アトランタ（米国）
• IEEE VLSIテストシンポジウム（VTS）2027年4月26日〜・ナパ（米国）
• VLSI・ナノテクノロジーの欠陥と耐故障性国際シンポジウム（DFTS）例年10月頃
• Future of Memory and Storage（FMS）例年7月頃
• オンラインテストとロバストシステム設計国際シンポジウム（IOLTS）例年7月頃
• 不揮発メモリワークショップ（NVMW）例年3月頃
• エレクトロニクス・フォトニクスパッケージ信頼性シンポジウム（REPP）2026年11月12日〜・ロサンゼルス（米国）

※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。