SEMICON Japan 2026(12/9〜11)にあわせて、出展企業さまの広告掲載のご相談を受け付けています。SEMICON Japan 2026 広告募集詳しく見る

CONFERENCE

DATE 2027(欧州設計・自動化・テスト会議)

回路の設計自動化(EDA)・検証・テストを扱う、欧州で毎年開かれる国際会議。

01開催概要


正式名称
Design, Automation and Test in Europe Conference
主催
EDAA・ECSI ほか
次回の会期
2027年3月22日〜3月24日(水)(開幕まであと145日)
開催地
ドレスデン(ドイツ)
例年の開催
3月頃・欧州
分野
回路・設計(EDA)/信頼性・メモリ
格付け
主要国際会議欧州で毎年開かれる設計自動化(EDA)とテストの主要な国際会議。設計自動化の中心はDACのため主要国際会議としています。格付けの決め方
公式サイト
www.date-conference.com(2026/10/24 確認)
会期をカレンダーに追加(.ics)

02DATEはどんな学会か


DATEは、電子回路とシステムの設計自動化(EDA)・検証・テストを扱う欧州の国際会議です。毎年3月前後に開かれます。

設計ツールのアルゴリズム、AIを使った設計、チップレットや3D実装の設計、製造後のテストや故障の検出(DFT)など、設計から検証・テストまでの幅広い発表があります。

03注目の技術


DATEでよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • EDA(電子設計自動化)

    EDA(Electronic Design Automation:電子設計自動化)とは、半導体チップの設計を自動化・効率化するためのソフトウェアツール群の総称です。

  • テスト容易化設計

    テスト容易化設計(DFT:Design for Testability)とは、半導体チップの設計段階においてテスト効率を高めるための回路・構造をあらかじめ組み込む設計手法の総称である。

  • スキャンテスト

    スキャンテスト(Scan Test)は、テスト容易化設計(DFT)の代表的手法で、チップ内部のフリップフロップを数珠つなぎにしてスキャンチェーンを構成し、内部の状態を外部から自由に設定(制御)・読み出し(観測)できるようにする技術です。

04同じ分野の学会

学会一覧へ →

※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。