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STI形成CMP装置メーカー3

STI形成CMP装置とは、Shallow Trench Isolation(浅溝素子分離)構造を形成するためのCMP装置です。シリコン基板に深さ300〜500nmの浅い溝(トレンチ)を掘り、SiO₂などの絶縁膜を堆積した後、CMPで余剰絶縁膜を除去してシリコン窒化膜(Si₃N₄ストップ層)面と同一高さに揃えます。FinFET・GAA構造のトランジスタ作製に必須の基礎工程で、素子間リーク電流の排除と微細化の両立に不可欠です。

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主要特徴

STI=シリコンに浅い溝を掘りSiO₂で充填して素子間を電気的に分離する構造
CMP工程:CVDでSiO₂を堆積→酸化膜CMPでSi₃N₄ストップ層まで研磨
Si₃N₄ストップ層への選択比(SiO₂:Si₃N₄ > 30:1)が高いCeria(セリア)スラリーが主流
エロージョン(配線密集部の過剰研磨)をダミーパターン挿入とスラリー添加剤で抑制
FinFETのfin間・GAA構造のナノシート間の分離にも応用

よくある質問

STI(Shallow Trench Isolation)とは何ですか?
STI(浅溝素子分離)とはシリコン基板表面に深さ数百nmの浅い溝を形成し、SiO₂などの絶縁材料で充填することでトランジスタ間の電流リーク(パンチスルー)を防ぐ素子分離技術です。CMOS製造において個々のトランジスタを電気的に独立させるための基礎工程で、0.25μm以降のすべての先端ノードで標準技術となっています。
STI形成でセリアスラリーが使われる理由は何ですか?
STI CMPではSiO₂を研磨してSi₃N₄で止める(高選択比)ことが重要です。シリカ(SiO₂)スラリーはSiO₂とSi₃N₄の選択比が低いのに対し、セリア(CeO₂)粒子スラリーはSiO₂を化学的に活性化して除去速度を高め、Si₃N₄への研磨速度を低く保ちます。選択比30:1以上を実現するため、STI CMPではセリアスラリーが業界標準となっています。
STI CMPのエロージョンとは何ですか?
エロージョン(Erosion)はSTI CMPで配線密集領域全体が過剰研磨されて低下する現象です。パターン密度の違いによって研磨速度が変わり、密集パターン部ではSiO₂が少ないためストップ層のSi₃N₄まで研磨が続いてしまいます。ダミーパターンを追加して密度を均一化したり、スラリー添加剤でエロージョンを制御します。
STI形成CMP装置の主要メーカーはどこですか?
STI CMPを含む酸化膜CMP装置はApplied Materials(Mirra・Reflexion)とLam Research(SPEED)が世界首位です。東京精密(ACCRETECH)はアジアファブで採用が多く、日本の半導体製造装置産業で重要な位置を占めます。STI向けセリアスラリーはEntegris・KCTechが主力サプライヤーです。

メーカー

3社の主要メーカー

Applied Materials米国

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

成膜装置
CVDPVDALD
エッチング装置
エッチングシステム
CMP・イオン注入
CMP装置イオン注入装置
  • 世界最大の半導体製造装置サプライヤー
  • 成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオ
Lam Research米国

エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。

エッチング装置
KiyoFlexVantexAkara
成膜装置
デポジションシステム
洗浄装置
ウェーハ洗浄装置
  • エッチング装置で世界シェア約39%のトップポジション
  • 原子層エッチング(ALE)技術における技術リーダーシップ
東京精密(Accretech)日本

日本の精密計測・半導体製造装置メーカー。ウェーハプロービングシステムおよびダイシング装置で高い技術力を誇る。

プロービングシステム
ウェーハプローバー自動プローブステーション
ダイシング・研削装置
ダイシングソーウェーハ研削装置
  • ウェーハプローバーにおける高精度計測技術
  • ダイシングソーおよび研削装置の製造実績

関連カテゴリ

金属CMP装置
酸化膜CMP装置
パッドコンディショナー

関連用語

酸化膜CMP(STI・ILD)とは →CMP(化学機械研磨)とは →CMP装置とは →CMPスラリーとは →研磨パッドとは →パッドコンディショニングとは →リテーナリングとは →研磨ヘッドとは →メタルCMP(Cu・W)とは →研磨レート(Prestonの式)とは →研磨均一性(WIWNU)とは →スクラッチ(CMP傷)とは →

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