最後更新:2026年10月8日曝光・微影EUV 曝光・微影中國大陸:浸没式光刻

浸潤式微影(ArF 浸潤式)是什麼

Immersion Lithography (ArFi)

浸潤式微影(ArF 浸潤式)是在投影鏡頭與晶圓之間以純水(折射率約1.44)取代空氣,縮短等效曝光波長以提高解析度的微影技術。ArF 的193nm 相當於等效134nm,數值孔徑(NA)可提高到1.0以上(最高1.35)。導入 EUV 後,仍與多重圖案化搭配,廣泛用於各種節點。

目錄5 項
  1. 定義與原理
  2. 常見問題
  3. 相關企業
  4. 相關用語
  5. 比較文章

定義與原理

浸潤式微影(Immersion Lithography)是在投影鏡頭與晶圓之間以純水(折射率 n≈1.44)取代空氣,藉此縮短等效曝光波長、提高解析度的微影技術。使用 ArF 準分子雷射(193nm)的「ArF 浸潤式(ArFi)」是主流,可得到193nm÷1.44≒134nm 的等效波長。因此數值孔徑(NA)可提高到1.0以上(最高1.35),解析度比傳統乾式 ArF(NA 最高0.93)大幅提升。

浸潤式微影於2004年由台積電與 IBM 共同發表應用於90nm 節點,並於2006年起導入量產。直到 EUV 設備投入量產的2019年前後,一直是支撐65nm→45nm→28nm→20nm 微縮的核心技術。目前在 EUV 用不到的40nm~130nm 傳統節點,以及與 EUV 搭配(混合曝光)的最先進晶圓廠中,仍有大量機台在運轉。

為了突破浸潤式微影單獨使用時的解析度極限,會搭配「多重圖案化(multi-patterning)」技術。代表性的有「LELE(Litho-Etch-Litho-Etch)」「SADP(Self-Aligned Double Patterning,自對準雙重圖案化)」「SAQP(Self-Aligned Quad Patterning,自對準四重圖案化)」,在10nm 世代以後,以2~4次重複曝光使解析度實質倍增。這種多重曝光造成的成本與製程步驟增加,成為導入 EUV 的主要動機。

浸潤式曝光機的主要供應商為艾司摩爾(ASML,NXT:2000i/2050i/2100i 系列)、尼康(Nikon,NSR-S635E 等)、佳能(Canon,FPA-8300系列)3家。ASML 以超過80%的市占率主導市場,尼康與佳能則供應部分節點或特定用途(顯示面板、MEMS 等)。浸潤式曝光機的產出量一般超過每小時300片晶圓,生產力高於 EUV 設備(每小時100~200片)。

浸潤式微影所用的光阻,需要不同於「KrF 光阻」「ArF 乾式光阻」的「ArFi 光阻(浸潤式用)」。防止與純水接觸而溶出、膨潤的頂部塗層(top coat),以及浸潤液的回收與管理系統,也是設備的重要構成要素。預測未來即使最先進節點由 EUV 主導,浸潤式 ArF 仍將作為具成本效益的互補技術長期持續使用。

浸潤式微影(ArF 浸潤式)的常見問題

為什麼浸潤式微影能提高解析度?
以折射率1.44的純水填滿投影鏡頭與晶圓之間後,光在該介質中的波長會等效縮短(相當於193nm÷1.44≒134nm),同時數值孔徑(NA)也能提高到1.0以上。解析度由 R=k₁×λ/NA 決定,因此 λ 實質縮小與 NA 增大的雙重效果,使微縮得以實現。
浸潤式微影為什麼使用純水?
因為純水幾乎不吸收193nm 的光,折射率高達1.44,而且半導體製程熟悉的超純水在晶圓廠中早已建置完備。雖然也曾研究折射率更高的液體(高折射率浸潤),但因吸收與污染問題,未能實用化。
浸潤式微影特有的缺陷有哪些?
包括水中氣泡造成的轉印不良、水痕(水滴殘留痕跡)、光阻成分溶入水中的滲出(leaching),以及經由水造成的微粒污染。為了抑制這些缺陷,會在光阻上加上頂部塗層,或採用精密控制水供應與回收的噴嘴設計。

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