M4841（テストハンドラ）

MCU・DSP の大量生産向けの高スループットのテストハンドラ。最大 32 個同時測定、毎時 18,500 個。

M4841とは

M4841 は、アドバンテストのテストハンドラです。BGA、CSP、QFP などのパッケージを多数個同時に高スループットで試験し、携帯型デジタル機器や車載向けの半導体の量産に向いています。

最大 32 個の同時測定（従来機の 4 倍）と、毎時 18,500 個（従来機の 3 倍以上）の高いスループットで、テストコストを下げます。

恒温槽を持ち、−40℃ から +125℃ まで（オプションで −55℃〜+175℃）の温度を加えられるため、車載や航空機向けの厳しい環境試験にも対応します。同時測定数、温度範囲、処理能力のユニットを選べるモジュール構造で、導入コストを最適化できます。デバイスの温度変化に動的に対応する ATC2.0 も搭載します。

主な特長

•最大 32 個同時測定
•毎時 18,500 個
•−55〜+175℃（オプション）
•ATC2.0

主な仕様

同時測定	最大 32 個（従来機比 4 倍）
スループット	毎時 18,500 個
温度範囲	−40〜+125℃（オプションで −55〜+175℃）

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目	アドバンテストM6242（テストハンドラ）	アドバンテストM5241（テストハンドラ）	アドバンテストM4841（テストハンドラ）	アドバンテストM4872（テストハンドラ）	アドバンテストM4173（テストハンドラ）	CohuEclipse（テストハンドラ）
温度範囲	—	−40〜+125℃（標準）	−40〜+125℃（オプションで −55〜+175℃）	—	−45〜125℃（Tri-temp）	-45 ～ +155°C
スループット	42,200 個／時	—	毎時 18,500 個	—	—	最大 13,000 UPH
対象	BGA・CSP などのメモリパッケージ	—	—	AI・自動運転向けのハイエンド SoC	—	—
温度制御	-10 ～ 100°C で ±1.5°C	—	—	ATC（大容量の冷却・加熱）	—	—

1機種だけが掲載している項目（9件）

関連機種	M6243・M6241（前機種）	—	—	—	—	—
温度精度	—	±1.0℃（マイクロチャンバー方式）	—	—	—	—
並列数・スループット	—	最大 512 デバイス・最大 46,000 UPH	—	—	—	—
同時測定	—	—	最大 32 個（従来機比 4 倍）	—	—	—
荷重制御	—	—	—	Die Force Control（ダイ部と周囲を別々に制御）	—	—
サイト数	—	—	—	—	シングルサイト（研究開発向け）	—
特徴	—	—	—	—	ネットワーク経由の遠隔操作	—
方式	—	—	—	—	—	ピック＆プレース
並列数	—	—	—	—	—	最大 16 個