最後更新:2026年10月23日晶圓基板檢測設備

NC-80MAP的特點與規格

Napson・晶圓基板檢測設備

以多支非接觸探頭涵蓋寬廣範圍的渦電流法電阻率・片電阻量測儀,最多可取得 217 點的分布圖。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

NC-80MAP 是 Napson 以非接觸(渦電流法)量測電阻率・片電阻的半自動量測儀。量測時不接觸樣品,因此能在不造成損傷的情況下進行精密量測。

標準支援 2~8 吋晶圓,選配可支援 12 吋。量測範圍以多種探頭類型合計,電阻率為 1mΩ~200Ω・cm,片電阻為 10mΩ/sq~3kΩ/sq。可用 4 種探頭構成分段量測。

可在距邊緣 8mm 以上的範圍進行多點量測,以程式設定量測圖樣,並以 2D/3D 分布圖軟體將結果視覺化。搭載的探頭數量與種類可依需求變更。

主要規格

量測方式非接觸(渦電流法)
量測項目電阻率・片電阻(2D/3D 分布圖)
對象製程Si・SiC・GaN 晶圓
主要用途基板的電阻率檢測

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

以渦電流法進行非接觸量測
2~8 吋(12 吋為選配)
電阻率 1mΩ~200Ω・cm,片電阻 10mΩ~3kΩ/sq
多點量測・2D/3D 分布圖

主要用途

  • 矽晶圓・基板的電阻率評估
  • 導電膜的片電阻管理

製造商

Napson(總部:日本)

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資料來源

  1. Napson 官方產品頁面:NC-80MAP