NC-80MAP 是 Napson 以非接觸(渦電流法)量測電阻率・片電阻的半自動量測儀。量測時不接觸樣品,因此能在不造成損傷的情況下進行精密量測。
標準支援 2~8 吋晶圓,選配可支援 12 吋。量測範圍以多種探頭類型合計,電阻率為 1mΩ~200Ω・cm,片電阻為 10mΩ/sq~3kΩ/sq。可用 4 種探頭構成分段量測。
可在距邊緣 8mm 以上的範圍進行多點量測,以程式設定量測圖樣,並以 2D/3D 分布圖軟體將結果視覺化。搭載的探頭數量與種類可依需求變更。
以多支非接觸探頭涵蓋寬廣範圍的渦電流法電阻率・片電阻量測儀,最多可取得 217 點的分布圖。
NC-80MAP 是 Napson 以非接觸(渦電流法)量測電阻率・片電阻的半自動量測儀。量測時不接觸樣品,因此能在不造成損傷的情況下進行精密量測。
標準支援 2~8 吋晶圓,選配可支援 12 吋。量測範圍以多種探頭類型合計,電阻率為 1mΩ~200Ω・cm,片電阻為 10mΩ/sq~3kΩ/sq。可用 4 種探頭構成分段量測。
可在距邊緣 8mm 以上的範圍進行多點量測,以程式設定量測圖樣,並以 2D/3D 分布圖軟體將結果視覺化。搭載的探頭數量與種類可依需求變更。
| 量測方式 | 非接觸(渦電流法) |
|---|---|
| 量測項目 | 電阻率・片電阻(2D/3D 分布圖) |
| 對象製程 | Si・SiC・GaN 晶圓 |
| 主要用途 | 基板的電阻率檢測 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
Napson(總部:日本)