晶圓基板檢測設備是什麼
晶圓基板檢測設備是針對投入元件製程前的鏡面晶圓,檢測表面異物、刮傷、LPD(光點缺陷)、形狀、電阻率等的設備群。用於基板廠商的出貨檢驗與元件廠商的進料檢驗,是避免來歷不明的基板流入製程的關卡。由於對象是無圖形的裸晶圓,以散射光方式的檢測為主,並搭配電阻率、載子壽命量測,綜合判定基板品質。
重點整理
檢測投入前鏡面晶圓的異物、LPD、形狀、電阻率
用於基板廠商的出貨檢驗與元件端的進料檢驗
對象為裸晶圓,以散射光方式檢測為主
搭配電阻率、載子壽命量測,綜合判定基板品質
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化合物半導體基板製造設備(SiC/GaN)
化合物半導體基板製造設備是製造 SiC、GaN、GaAs、InP 等矽以外之半導體基板並進行沉積的設備群。
單晶生長設備(CZ/FZ 拉晶)單晶生長設備是將多晶矽原料熔融,從晶種成長出無缺陷單晶晶棒的設備。
雙面拋光設備(DSP)雙面拋光設備(DSP)是以上下研磨盤同時拋光晶圓正反兩面,做出高平坦度與平行度的設備。
晶圓邊緣拋光設備晶圓邊緣拋光設備是拋光經倒角(bevel)加工之晶圓外周部,去除邊緣粗糙與微裂紋的設備。
晶圓拋光、倒角設備晶圓拋光與倒角設備是將切片後的晶圓表面鏡面化、整修邊緣之精加工製程的設備群。
線鋸、切片設備切片設備是將成長完成的單晶晶棒切成薄晶圓的設備。