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トリオテック・インターナショナル

バーンインシステム・半導体テストハンドラーを手掛けるシンガポール拠点の装置メーカー。OSAT向けの信頼性試験・最終テスト工程装置を展開する。

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当サイトでの位置づけ

Semirai のテスト装置カテゴリでは、バーンイン試験・ハンドラー装置を手掛けるシンガポール拠点のメーカーとして位置づけられます。

企業の強み

バーンインシステムに特化した専業メーカー
OSAT向け最終テスト装置に強み
アジア地域での豊富な導入実績

主要製品・ソリューション

テスト・信頼性試験

  • バーンインシステム
  • テストハンドラー

📊 半導体製造装置メーカーの世界シェア&カオスマップ

ASML・Applied Materials・TEL・Lam Research・KLAなど、トリオテック・インターナショナルを含む主要メーカーの工程別シェアを図解で比較。

関連用語

バーンインとは →テストハンドラーとは →信頼性試験とは →HTOL(高温動作寿命試験)とは →温度サイクル試験とは →HAST(高加速寿命試験)とは →

同じトピックの用語

テスト装置 のトピックで関連する用語です。

半導体テストとは →ATE(自動テスト)とは →ウェハプローバーとは →KGD(良品ダイ)とは →システムレベルテストとは →プローブカードとは →ウェハテスト(プロービング工程)とは →最終テスト(パッケージテスト)とは →

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比較・違いを学ぶ

ウェハテストと最終テストの違い(半導体テスト工程比較)
ウェハテスト(Wafer Test / CP:Circuit Probe)はウェハ状態のままプローバーで各ダイの電気特性を測定し、不良ダイを封止前に弾く工程です
ATPGとBISTの違い(テストパターンをどこで作るか)
どちらもDFT(テスト容易化設計)の枠組みに属する技術ですが、テストの実行主体が外にあるか内にあるかという点で対照的です。実際のSoCでは両者を組み合わせ、メモ
HTOLとバーンインの違い
どちらも高温で電圧をかけて動作させる試験のため混同されがちですが、位置づけはまったく違います。片方は製品の選別工程であり、もう片方は設計・プロセスの信頼性を認定
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