SiCパワー半導体製造装置メーカー6社

SiCパワー半導体製造装置は、シリコンカーバイド(SiC)を基板材料とするパワーデバイス(SiC-MOSFET・SiC-SBDなど)の製造に特化した装置群です。SiCはシリコンに比べてバンドギャップが約3倍広く、絶縁破壊電界が約10倍高いため、高耐圧・高温動作・低損失のスイッチングデバイスが実現できます。製造では高温エピタキシャル成長(1400〜1600°C以上のCVD)、高エネルギーイオン注入(Al/N)、高温アクティベーションアニール(1600〜1800°C)など、Siとは異なる専用プロセスが必要です。EV(電気自動車)インバータ・太陽光発電・産業用電源向けの需要拡大を背景に、6インチから8インチへのウェハ大口径化と製造コスト削減が最重要課題です。

メーカー 6 社同じ分野の装置 5 カテゴリ
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スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

イオン注入:2機種の比較

項目日新イオン機器IMPHEAT-IIApplied MaterialsVIISta® 900 3D(ホットイオン注入)
方式高温イオン注入(基板温度 500 ℃)ホットイオン注入
対応ウェハ径SiC ウェーハ150 mm/200 mm
エネルギー最大加速電圧 320 kV・最大 960 keV中電流機(VIISta 900 系)
主要用途SiC パワーデバイスの不純物注入SiC パワーデバイスの不純物注入
項目東京エレクトロン(TEL)UNITY™ Me+ASMインターナショナルPE1O6A/PE1O8(SiC エピ装置)ASMインターナショナルPE2O8™(SiC エピ装置)
対応ウェハ径100/150/200 mm—6/8 インチ
方式—枚葉クロスフロー反応炉の SiC エピデュアルチャンバーの SiC エピ(ホットウォール・クロスフロー)
1機種だけが掲載している項目(5件)
チャンバーSCCM(酸化膜)・DRM・UD(Si/SiC トレンチ)、1〜4 室——
対応基板Si・SiC・ガラス・サファイア・LN・LT など——
均一性—膜厚 1% 未満・ドーパント 2% 未満—
成長速度—最大 60µm/h—
加熱——誘導加熱

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

代表製品・スペック

製品写真
日新イオン機器

IMPHEAT-II

SiC パワー半導体向けの高温イオン注入装置。前機種 IMPHEAT からビーム電流を約 4 倍にし、生産能力を約 3 倍に高めた。

方式高温イオン注入(基板温度 500 ℃)
対応ウェハ径SiC ウェーハ
エネルギー最大加速電圧 320 kV・最大 960 keV
主要用途SiC パワーデバイスの不純物注入
製品写真
Applied Materials

VIISta® 900 3D(ホットイオン注入)

150/200mm の SiC ウェーハ向けホットイオン注入装置。結晶格子へのダメージを抑え、室温注入に比べ抵抗率を 40 分の 1 以下にする。

方式ホットイオン注入
対応ウェハ径150 mm/200 mm
エネルギー中電流機(VIISta 900 系)
主要用途SiC パワーデバイスの不純物注入
製品写真
Applied Materials

Mirra® Durum™ CMP

研磨・除去量計測・洗浄・乾燥を1台に統合した SiC ウェーハ向け CMP 装置。

方式CMP(研磨・計測・洗浄・乾燥の統合)
対応ウェハ径200 mm
主要用途SiC ウェーハの表面平坦化(機械研削比で粗さ 50 分の 1)
製品写真
Plasma-Therm Japan

VERSALINE® ICP

化合物半導体・金属・誘電体・圧電材料向けに ICP とイオンビームエッチングを提供する Plasma-Therm のプラットフォーム。

方式ICP エッチング/イオンビームエッチング
対応ウェハ径150 mm 以下の SiC ウェーハ
主要用途SiC の高アスペクト比エッチング
製品写真
東京エレクトロン(TEL)

UNITY™ Me+

200mm 以下のウェーハ向けのドライエッチング装置。パワーデバイスの Si/SiC トレンチ加工で使われる。

対応ウェハ径100/150/200 mm
チャンバーSCCM(酸化膜)・DRM・UD(Si/SiC トレンチ)、1〜4 室
対応基板Si・SiC・ガラス・サファイア・LN・LT など
製品写真
ASMインターナショナル

PE1O6A/PE1O8(SiC エピ装置)

枚葉クロスフロー反応炉を持つ ASM の単一チャンバー SiC エピタキシャル成長装置。成長速度は最大 60µm/h。

方式枚葉クロスフロー反応炉の SiC エピ
均一性膜厚 1% 未満・ドーパント 2% 未満
成長速度最大 60µm/h
製品写真
ASMインターナショナル

PE2O8™(SiC エピ装置)

2 つの枚葉反応炉を持つ高生産性の SiC エピタキシャル成長装置。6・8 インチのウェーハに対応する。

方式デュアルチャンバーの SiC エピ(ホットウォール・クロスフロー)
加熱誘導加熱
対応ウェハ径6/8 インチ

※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

メーカー

6社の主要メーカー

Veeco Instruments米国

MOCVD・MBE・ALDなど薄膜エピタキシャル成長装置の専業メーカー。LED、化合物半導体、先端ロジック向けの精密成膜技術を提供。

MOCVD装置
EPIKTurboDisc
MBE装置
GENxcelシリーズ
ALD装置
FijiFiji G2
  • •MOCVD装置でグローバルトップシェア
  • •MBE・ALDを含む多様な薄膜成長技術ポートフォリオ
会社詳細
日新イオン機器日本

イオン注入装置の専業メーカーとして、中電流・高電流・超高エネルギーイオン注入装置を展開。パワー半導体・CMOS向けドーピング装置で高い技術力を誇る。

イオン注入装置
中電流型(SHX-III)高電流型(LHX)超高エネルギー型(UHE)
  • •中電流・高電流・超高エネルギー全タイプのイオン注入装置を製造
  • •パワー半導体向け大電流注入装置で強い実績
会社詳細
Applied Materials米国

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

成膜装置
CVDPVDALD
エッチング装置
エッチングシステム
CMP・イオン注入
CMP装置イオン注入装置
  • •世界最大の半導体製造装置サプライヤー
  • •成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオ
会社詳細
Plasma-Therm Japan日本

化合物半導体・MEMS・先端パッケージング向けのドライエッチング・PECVD装置を専門とする米 Plasma-Therm の日本法人。R&D および中小量産向けで存在感。

ドライエッチング装置
Versaline ICPVersaline DSE
成膜装置
Versaline PECVD
  • •化合物半導体(GaN・SiC)・MEMS 向けドライエッチング専門
  • •R&D および中小量産プラットフォームに強み
会社詳細
東京エレクトロン(TEL)日本

世界第3位の半導体製造装置メーカー。塗布現像、成膜、エッチング装置で高いシェアを誇り、先端プロセスに不可欠な技術を提供。

塗布現像装置
CLEAN TRACK ACTCLEAN TRACK LITHIUS
エッチング装置
TactrasCertas
成膜装置
EpisodeTriase+TELINDY PLUS
  • •コータ/デベロッパで世界トップクラスのシェア
  • •塗布、成膜、エッチング装置の総合ラインナップ
会社詳細
ASMインターナショナルオランダ

ALD(原子層堆積)装置とエピタキシャル成長装置のグローバルリーダー。次世代ロジック・メモリプロセスに不可欠な高品質薄膜形成技術を提供。

ALD装置
Pulsar(熱ALD)Eagle(プラズマALD)Synapse(バッチALD)
エピタキシャル成長装置
Intrepid ES(SiGe/Si)EmerALD(III-V)
  • •ALD装置で世界トップシェア。GAA・FinFET向けハイK/メタルゲートに必須
  • •SiGe・III-Vエピタキシャル成長装置でも高い技術力
会社詳細

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