PDF Solutions/品質・歩留まり管理システム(YMS)

Exensio® Analytics Platform

製造データを取り込んで標準化し、ファブ・テスト・組立をまたいで歩留まりロスや工程ばらつきを見つける PDF Solutions の分析基盤。

Exensio Analytics Platformとは

Exensio Analytics Platform は、PDF Solutions の半導体製造データ分析プラットフォームで、Manufacturing Analytics はその中核モジュールです。歩留まりの立ち上げを早め、量産への移行を加速することを目的としています。

FDC(装置の異常検知)、特性評価、テスト、組立といった複数のデータ源から自動でデータを集めて整え、共通のセマンティックデータモデルで扱います。全世界でペタバイト級のデータを管理し、ロットとウェーハの完全な来歴(ジェネアロジー)をたどれます。エンジニアは手作業のデータ整理なしに歩留まり問題の根本原因を探れます。

オンラインとオフラインのルールでプロセスの問題、外れ値、パラメトリックのトリガーを監視し、R 言語でルールをカスタマイズできます。データ交換ネットワーク DEX を基盤に、Spotfire の可視化と AI/ML 機能を備えます。欠陥ソース解析、物理故障解析、Guided Analytics、Exensio NPI などのモジュールがあり、IDM、ファウンドリ、ファブレスのエンジニアに使われています。

主な特長

  • •FDC・特性評価・テスト・組立のデータを統合
  • •ロット・ウェーハの完全な来歴管理
  • •オンライン/オフラインのルール監視(R で拡張)
  • •Spotfire 可視化と AI/ML

主な仕様

提供形態エンタープライズ分析プラットフォーム(モジュール構成)
対象データFDC・特性評価・テスト・組立データ
主要用途IDM・ファウンドリ・ファブレスの歩留まり立ち上げ

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目PDF SolutionsExensio® Analytics PlatformSynopsysYield Explorer/SiliconDash
提供形態エンタープライズ分析プラットフォーム(モジュール構成)Silicon Lifecycle Management(SLM)製品群
対象データFDC・特性評価・テスト・組立データ設計フロー・ファブ・ウェーハ/チップテスト・モニタ/センサー
主要用途IDM・ファウンドリ・ファブレスの歩留まり立ち上げ初期シリコンのデバッグ・量産歩留まり改善

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •歩留まりの根本原因解析
  • •量産立ち上げの加速

掲載カテゴリ

Exensio Analytics Platformは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

PDF Solutions

半導体製造プロセスの歩留まり向上・データ解析・プロセス制御ソフトウェアを提供する専業企業。Exensio®プラットフォームでFab全体のデータを統合し、AI活用による予知保全・歩留まり管理を実現する。

PDF Solutions の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-06
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