最後更新:2026年10月23日片電阻量測設備

Filmetrics R54的特點與規格

科磊(KLA)・片電阻量測設備

以四點探針法與非接觸渦電流法繪製片電阻與金屬膜厚分布圖的科磊量測儀。具備遮光機殼並支援 300mm。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Filmetrics R54 是科磊的片電阻・導電率分布量測設備。科磊自 1975年推出首台電阻率計以來,投入片電阻量測已超過 45 年,Filmetrics R 系列即以該技術為基礎開發。

以接觸式四點探針法(4PP)與非接觸渦電流法兩種方式,繪製金屬層膜厚、片電阻與片電導的分布圖。在所有使用導電膜的產業中,片電阻監控都很重要,從半導體的金屬膜管理到穿戴式裝置的軟性電子都有使用。

R54 是 R 系列的最新機型,在 R50 的基礎上加入遮光機殼並支援 300mm 晶圓,為半導體與化合物半導體製造提供金屬膜厚量測解決方案。

主要規格

量測方式四點探針法(接觸)/渦電流(非接觸)
適用晶圓尺寸最大 300 mm
量測範圍片電阻・金屬膜厚・片電導
主要用途半導體・化合物半導體的金屬膜管理

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

四點探針法(接觸)與渦電流法(非接觸)
繪製金屬膜厚・片電阻・片電導分布圖
遮光機殼・支援 300mm

主要用途

  • 半導體・化合物半導體金屬膜的膜厚・電阻管理

製造商與在台據點

在台據點
  • 台灣總部(新竹縣竹北市):台元科技園區,2025 年啟用新辦公室與訓練中心
  • 各地據點(新竹・桃園・林口・台中・台南・高雄):就近支援各科學園區的客戶

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資料來源

  1. 科磊(KLA)官方產品頁面:KLA Sheet Resistance Measurement