CAPRES CIPTech 是科磊的電性・磁性特性量測設備。在空白 MTJ（磁穿隧接面）堆疊上，直接量測對 MRAM、STT-RAM、磁記錄讀寫頭與磁感測器十分重要的磁阻（MR）與穿隧電阻（RA）。
由 IBM 授權的面內電流穿隧技術（CIPTech）量測速度比傳統方法快，大幅減少成本與時間。以具備 12 根微小懸臂電極的獨家多點探針接觸 MTJ 表面，自動求得 MR 與 RA。
有全自動的 CAPRES A301 CIPTech 與半自動／手動的 CAPRES M300 CIPTech，可非破壞量測 300mm 整片晶圓或樣品片。