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めっき膜厚・時間 計算ツール(ファラデーの法則)

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要点

電気めっきの膜厚は、流した電荷量に比例します(ファラデーの法則)。硫酸銅浴の銅めっきなら、電流効率100%で 1 ASD(10 mA/cm²)あたり約0.22 µm/min で成長します。膜厚は電流密度×時間で決まるため、条件を変えるときはこの積をそろえると考えやすくなります。

入力

めっき膜厚4.322µm
析出速度0.4322µm/min
目標 5 µm までの時間11.57 分
電流密度(ASD換算)2.00A/dm²
めっき面積212.1cm²
必要な電流4.241A
通電量0.7069Ah
析出する金属の質量821.22mg

ウェハ全面での平均値です。実際の膜厚は電流分布(ウェハ外周が厚くなるターミナル効果、パターン密度による局所差)で面内にばらつきます。開口率はレジストパターンで露出したシード層の面積比です。

金属別の析出速度(10 mA/cm²・電流効率 入力値)

金属析出速度1時間あたり
銅(Cu²⁺、硫酸銅浴)0.216 µm/min13.0 µm/h
ニッケル(Ni²⁺)0.201 µm/min12.0 µm/h
金(Au⁺、シアン系・亜硫酸系)0.622 µm/min37.3 µm/h
銀(Ag⁺)0.627 µm/min37.6 µm/h
スズ(Sn²⁺、はんだバンプ)0.496 µm/min29.8 µm/h
コバルト(Co²⁺)0.202 µm/min12.1 µm/h
パラジウム(Pd²⁺)0.270 µm/min16.2 µm/h

半導体での電気めっき

電気めっきでは、流した電荷量に比例した量の金属が析出します(ファラデーの法則)。銅は2価のイオンなので、1モル(63.5g)を析出させるのに2ファラデー(約19.3万クーロン)が必要です。膜厚は電流密度と時間の積に比例するため、同じ装置で条件を変えるときは電流密度×時間をそろえると考えやすくなります。

半導体では、銅配線のデュアルダマシン埋め込み、TSVの充填、Cuピラーやはんだバンプの形成、再配線層(RDL)などに電気めっきが使われます。微細な溝を下から埋めるボトムアップ充填は、促進剤・抑制剤・レベラーという添加剤の働きによるもので、電流密度を段階的に変えるレシピが一般的です。

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