最後更新:2026年10月23日光學關鍵尺寸量測設備(OCD)

Atlas G6的特點與規格

Onto Innovation・光學關鍵尺寸量測設備(OCD)

面向最先進邏輯・記憶體的 OCD・薄膜量測設備,具備新光學系統與以 AI 進行的配方開發。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Atlas G6 是 Onto Innovation 的 OCD(光學 CD)・薄膜量測設備。專為最先進的邏輯與記憶體設計,針對次世代 AI 應用,提供強化的光學系統、以 AI 進行的配方開發,以及改善的機台間匹配。

隨著轉向次世代 GAA 節點、次世代 HBM 與垂直式 DRAM,製程管理的要求日益嚴苛。奈米片越小、DRAM 單元越密,就越需要量測精度、配方開發速度與機台間匹配。

以新的光學設計提高 S/N 比、光譜穩定性與量測精度。透過改良的軟體與資料管理提高整個機群的光譜匹配,並具備新的資料通道與次世代模型導引。

主要規格

方式OCD(光學 CD)・薄膜量測
特點以新光學設計提升 S/N・光譜穩定性・精度,以 AI 進行配方開發
對象GAA・次世代 HBM・垂直式 DRAM

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

新的光學設計
以 AI 進行配方開發
整個機群的光譜匹配

主要用途

  • GAA 奈米片的量測
  • HBM・垂直式 DRAM 的量測

製造商

Onto Innovation(總部:美國)

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資料來源

  1. Onto Innovation 官方產品頁面:Onto Innovation Atlas G6