J750Ex-HD 是泰瑞達（Teradyne）J750 家族的最新機種。在不降低品質的前提下，以最低成本測試相對簡單的混合訊號元件。
廣泛用於汽車、行動裝置、機器人等所使用之 MCU（微控制器）的測試。擁有 6,000 台以上的導入實績，可在 50 個以上的 OSAT 據點使用，已成為低成本元件大量測試的業界標準。
J750 於 1998 年推出，透過縮短單一測試站的測試時間與最佳化平行測試效率，持續降低測試成本。是在整個產品期間維持相容性、同時持續加入新量測儀器、延續時間最長的現役 ATE 產品。