Magnum 7 是泰瑞達（Teradyne）針對最新世代 NAND 快閃記憶體的最終測試系統。設想用於 UFS 與 PCIe 的高速快閃記憶體，以及資料中心 SSD、下一代 AI PC・行動裝置所用 NAND 的測試。
最大配置下擁有 18,432 個每通道 5.28Gbps 的 I/O，同時支援 ONFI 與分離指令・位址（SCA）兩種介面。
具備最多 4,096 個 DUT 電源（DPS）通道與 4,096 支高電壓接腳，最多可同時測試 1,024 顆元件。以大規模平行方式配備大電流 PMU，可在短時間內量測低電阻參數。從工程用到量產用都能以相同的硬體與軟體構成。