邏輯測試系統是什麼
邏輯測試系統是對 SoC、微控制器、FPGA 等以數位邏輯電路為主體的元件，高速施加大量測試圖樣並與期望值比對的自動測試設備（ATE）。腳位數與資料傳輸速率決定其性能，先進 SoC 需要數千腳位、數 Gbps 等級的數位通道。搭配以 ATPG 產生的掃描圖樣與 BIST 提高故障涵蓋率，同時藉由縮短測試時間降低測試成本，是主要課題。
重點整理
對數位邏輯電路施加大量測試圖樣並與期望值比對
腳位數與資料傳輸速率決定設備性能
搭配 ATPG 的掃描圖樣與 BIST 提高故障涵蓋率
縮短測試時間直接帶來測試成本的降低
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